- 前已述及,微控制器電路主要由MCU、按鍵輸入電路、存儲器(數(shù)據(jù)存儲器EEPROM和DDC存儲器)、同步信號處理電路、開關量控制電路、模擬量控制電路、I2C總線控制電路等幾部分組成。下面對這些電路進行簡要分析和介紹。1.M
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介紹 電路 控制器 液晶顯示
- 由于液晶顯示器是整個微型計算機系統(tǒng)中消耗功率較多的部件之一,因此,一般要求顯示器應具有綠色節(jié)能功能。例如,在鍵盤較長時間內(nèi)沒有字符輸入時,計算機主機控制顯示器相關電路停止正常工作,或者使顯示器電源電路
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介紹 電路 節(jié)能 液晶顯示
- 在液晶顯示器驅(qū)動板(主板)中,有一個十分重要的電路,稱為主控電路。主控電路的核心器件稱為主控芯片或Sealer芯片,其最基本的功能是進行圖像縮放處理。它能把接收到的其他模式信號,轉(zhuǎn)換成液晶屏所固有的顯示分辨率
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概述 電路 主控 驅(qū)動 液晶顯示
- 摘要 介紹了LVDS系統(tǒng)鏈路結(jié)構(gòu)及數(shù)據(jù)傳輸原理,分析了LVDS標準對接收器電路的需求,文中基于65 nm數(shù)字CMOS工藝設計,實現(xiàn)了一種高速低功耗LVDS接收器電路。仿真結(jié)果表明,在2.5 V電源電壓工作下,該LVDS接收器具有2
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電路 設計 接收器 LVDS 功耗 高速
- 絕大多數(shù)的MCU愛好者對MCU晶體兩邊要接一個22pF附近的電容不理解,因為這個電容有些時候是可以不要的。參考很多書籍,講解的很少,往往提到最多的是起穩(wěn)定作用,負載電容之類的話,都不是很深入理論的分析。問題是很
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振蕩 電路 分析 作用 電容 晶體 旁邊 MCU
- 1 電網(wǎng)電壓檢測、高壓檢測保護電路 電網(wǎng)電壓檢測、高壓檢測保護電路原理如圖1 所示。該輸入電壓與電網(wǎng)電壓成正比,單片機以此電壓為依據(jù),與內(nèi)部設定值進行比較,判斷工作電壓是否在其允許值范圍內(nèi)。若超過允許值
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原理 分析 工作 電路 檢測 電磁爐
- 一、電路介紹這里介紹的人體反應速度測試器主要由4只數(shù)字電路芯片和10只LED等組成,可以測出人體對信號的反應時間,并將反應時間分為8段,段數(shù)越高反應速度越快,經(jīng)常進行反應測試訓練,可以逐步提高人體的反應速度。
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測試 電路 速度 反應 人體 有趣
- 采用墻上交流電壓工作的大功率電源都要使用大的輸入濾波電容。必須限制這些電容的浪涌電流,否則,電源就可能觸發(fā)交流斷路器,或者造成整流器、濾波扼流圈或PCB(印刷電路板)走線的損壞。本例中的電路是在電容的充電路
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電路 控制 電流 電源 交流
- RF、SSP及DSP處理電路伺服電路的組成:由RF放大、伺服處理KB9223(SU3),DSP處理KS9284(SU2),聚焦、循跡、主軸、進給、進出倉電機驅(qū)動KA9259(SU4)等組成。
整機原理框圖見85頁附圖。1、RF數(shù)字信號處理
從光盤反射回
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電路 介紹 處理 DSP SSP RF
- 圖中所示是用運算放大器通用I型組成的分頻和倍頻電路.能在10HZ~10KHZ頻段內(nèi)工作.圖示線路是分頻與倍頻的基本構(gòu)成方法,即是一種鎖段內(nèi)工作.圖示線路是分頻與倍頻的基本構(gòu)成方法,即是一種鎖相環(huán)的方法.輸入頻率FM首先經(jīng)
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分析 電路
- LED燈具損壞的原因 LED燈具失效一是來源于電源和驅(qū)動的失效,二是來源于LED器件本身的失效。通常LED電源和驅(qū)動的損壞來自于輸入電源的過電沖擊(EOS)以及負載端的斷路故障。輸入電源的過電沖擊往往會造成驅(qū)動電路中
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保護 措施 分析 電路 原因 燈具 失效 LED
- 今天的高性能ASIC和微處理器芯片消耗的功率可超過150瓦。對于1 V1.5 V的供電電壓,這些器件所需要的電流可輕易超過100 A。通過采用多相直流/直流轉(zhuǎn)換器,為此類器件供電的任務可變得更容易處理。 目前,可擴展控制器
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電路 介紹 電源 供電 微處理器 芯片 ASIC
- 0 引言 Boost電路應用到功率因數(shù)校正方面已經(jīng)較為成熟,對于幾百瓦小功率的功率因數(shù)校正,常規(guī)的電路是可以實現(xiàn)的。但是對于大功率諸如感應加熱電源,還存在很多的實際問題。為了解決開關器件由于二極管反向恢復時
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設計 仿真 電源 感應 PFC 電路 開關
- 所有專為驅(qū)動白光LED而設計的集成電路都可以提供恒定電流,其中絕大多數(shù)是基于電感式升壓變換器或電荷泵的解決方案,這兩種解決方案各有其優(yōu)缺點。電荷泵解決方案是利用泵電容將電能從輸入端傳送至輸出端,整個過程不
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比較 電路 驅(qū)動 LED 白光
- 3 仿真分析及具體設計結(jié)果3.1 仿真分析在亞微米的ESD結(jié)構(gòu)的設計中,一種常見的具體的ESD瞬態(tài)檢測電壓如圖2 VDD-VSS間的電壓鉗位結(jié)構(gòu)。其原理如下:主要利用結(jié)構(gòu)中的RC延遲作用,一般T=RC被設計為100ns-1000ns之間,而
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VDD-VSSESD CMOS 亞微米 電路
電路介紹
type D conditioning
D型調(diào)節(jié),D型修整(話音級電路)
type D conditioning
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