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結(jié)合超寬帶測距和雷達(dá)功能以實(shí)現(xiàn)高級IoT應(yīng)用 11.14珠海｜與泰克共探半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈來這里瞧瞧NXP技術(shù)培訓(xùn)視頻吧>> 來學(xué)習(xí)NXP基于i.MX處理器的工業(yè)解決方案吧！

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白光干涉儀文章進(jìn)入白光干涉儀技術(shù)社區(qū)

使用白光干涉儀過程中的疑問

1、問：測量到最小尺寸能否達(dá)到12ΜM，或者能夠測到更小尺寸？答：可以，垂直分辨率是0.1nm，XY分辨率依物鏡而有...
關(guān)鍵字：白光干涉儀分辨率掃瞄器

共1條 1/1 1

白光干涉儀介紹

　　白光干涉儀SIS系列采用增加相位掃描干涉技術(shù)，是專為準(zhǔn)確測量表面輪廓、粗糙度、臺(tái)階高度和其他表面參數(shù)而設(shè)計(jì)的微納米測量系統(tǒng),，為韓國SAMSUNG全球唯一指定供應(yīng)商，LPL友好俱樂部成員，清華大學(xué)，臺(tái)灣大學(xué)，首爾大學(xué)友好合作伙伴?！　?、非接觸式測量：避免物件受損。　　2、三維表面測量：表面高度測量范圍為1nm-200μm?！　?、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換?！　?、納米級分辨率：垂直分 [ 查看詳細(xì) ]

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