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填充計(jì)數(shù)式相位測量的分析與實(shí)現(xiàn)

相位測量在工業(yè)自動化儀表、智能控制及通信電子等許多領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用，要想滿足一定的測量精度就要求微處理器的時(shí)鐘頻率足夠高。同樣，運(yùn)用此方法對高頻信號進(jìn)行測量時(shí)，由于相位差相對較小，一般的微處理器時(shí)
關(guān)鍵字： ADuC 7128 寬頻帶相位測量

關(guān)鍵字：片內(nèi)相位測量模擬光刻機(jī)采用特殊照明方式的高/超高數(shù)值孔徑（NA）的193nm光刻機(jī)和相位移掩膜版（PSM），使得光刻分辨率的極限達(dá)到了32nm節(jié)點(diǎn)。不利的因素是掩膜的復(fù)雜度正在以指數(shù)級遞增，而業(yè)界又迫切需要
關(guān)鍵字：相位測量模擬光刻機(jī)

相位測量在工業(yè)自動化儀表、智能控制及通信電子等許多領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用，要想滿足一定的測量精度就要求微處理器的時(shí)鐘頻率足夠高。同樣，運(yùn)用此方法對高頻信號進(jìn)行測量時(shí)，由于相位差相對較小，一般的微處理器時(shí)
關(guān)鍵字： ADuC 7128 寬頻帶相位測量

相位測量在工業(yè)自動化儀表、智能控制及通信電子等許多領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用，對相位測量的要求也逐步向高精度、智能化方向發(fā)展。對于低頻相位測量，一般采用數(shù)字脈沖填充法對輸入信號的相位進(jìn)行測量都能實(shí)現(xiàn)。但是
關(guān)鍵字：微處理器寬頻帶相位測量系統(tǒng)

基站發(fā)射機(jī)波束成形和波束控制是提高基站覆蓋范圍和容量的有效方法，這些技術(shù)要求使用多個(gè)收發(fā)器，并且基帶處理器必須補(bǔ)償各信號路徑的不良相位失調(diào)。此外，這種補(bǔ)償必須持續(xù)存在。本文介紹一種在工廠測試和工作期間測量多個(gè)發(fā)射機(jī)之間的相位差，以便基帶處理器補(bǔ)償這些失調(diào)的方法。
關(guān)鍵字：波束成形系統(tǒng) 相位測量

　　在電子測量技術(shù)中，測頻測相是最基本的測量之一。相位測量儀是電子領(lǐng)域的常用儀器，當(dāng)前測頻測相主要是運(yùn)用等精度測頻、PLL鎖相環(huán)測相的方法。研究發(fā)現(xiàn)，等精度測頻法具有在整個(gè)測頻范圍內(nèi)保持恒定的高精度的特點(diǎn)，但是該原理不能用于測量相位。PLL鎖相環(huán)測相可以實(shí)現(xiàn)等精度測相，但電路調(diào)試較復(fù)雜。因此，選擇直接測相法作為低頻測相儀的測試方法[1、2、3、4]。　　設(shè)計(jì)的低頻測相儀，滿足以下的技術(shù)指標(biāo)：a .頻率20-20KHz；b .輸入阻抗≥100KΩ；c.相位測量絕對誤差≤1度； d
關(guān)鍵字： CPLD 電子測量相位測量單片機(jī) EDA

摘要：本文提出了一種基于TMS320VC5402的低頻數(shù)字式相位測量儀的設(shè)計(jì)方法。關(guān)鍵詞： DSP；低頻；數(shù)字式；相位測量；SCM 引言隨著科學(xué)技術(shù)的突飛猛進(jìn)的發(fā)展，電子技術(shù)廣泛的應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、交通運(yùn)輸、航空航天、國防建設(shè)等國民經(jīng)濟(jì)的諸多領(lǐng)域中，而電子測量技術(shù)又是電子技術(shù)中進(jìn)行信息檢測的重要手段，在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中占有舉足輕重的作用和地位。低頻數(shù)字式相位測試儀在工業(yè)領(lǐng)域中是經(jīng)常用到的一般測量工具，比如在電力系統(tǒng)中電網(wǎng)并網(wǎng)合閘時(shí)，要求兩電網(wǎng)的電信號相同，這就要求精確的測量兩工頻信號
關(guān)鍵字： 0612_A DSP SCM 單片機(jī) 低頻嵌入式系統(tǒng) 數(shù)字式相位測量雜志_設(shè)計(jì)天地

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