硅片調(diào)試 文章 進(jìn)入硅片調(diào)試技術(shù)社區(qū)
惠瑞捷推出適用于V93000平臺的Inovys硅片調(diào)試解決方案
- 惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司推出Inovys™硅片調(diào)試解決方案，以滿足更高效調(diào)試的需求，加速新的系統(tǒng)級芯片 (SoC)器件的批量生產(chǎn)?；萑鸾萑碌慕鉀Q方案把革命性的Inovys FaultInsyte 軟件和具有可擴(kuò)充性和靈活性惠瑞捷V93000 SoC測試系統(tǒng)結(jié)合在一起。這是一款集成式解決方案，通過把電路故障與復(fù)雜的系統(tǒng)級芯片上的物理缺陷對應(yīng)起來，可以大大縮短錯誤檢測和診斷所需的時間。它明顯地縮短了制造商采用90 nm(及以下)工藝調(diào)試、投產(chǎn)和大批量生產(chǎn)所需的時間。 由于復(fù)雜的系統(tǒng)級芯
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硅片調(diào)試介紹
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