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硬件電路
硬件電路 文章 進(jìn)入硬件電路技術(shù)社區(qū)
基于單片機(jī)的硬件電路設(shè)計(jì)原理和工程應(yīng)用方案
- 智能型電纜測(cè)試系統(tǒng)采用單片機(jī)和工控機(jī)相結(jié)合的方案實(shí)現(xiàn)了1 536個(gè)測(cè)試點(diǎn)之問(wèn)導(dǎo)通和絕緣關(guān)系的測(cè)試。詳細(xì)說(shuō)明了基于單片機(jī)的硬件電路設(shè)計(jì)原理和工程應(yīng)用方案。經(jīng)實(shí)際測(cè)試,電纜測(cè)試系統(tǒng)達(dá)到了設(shè)計(jì)要求,大幅度提高了洲
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基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)
- 引言 PCB 光板測(cè)試機(jī)基本的測(cè)試原理是歐姆定律,其測(cè)試方法是將待測(cè)試點(diǎn)間加一定的測(cè)試電壓,用譯碼電路選中PCB 板上待測(cè)試的兩點(diǎn),獲得兩點(diǎn)間電阻值對(duì)應(yīng)的電壓信號(hào),通過(guò)電壓比較電路,測(cè)試出兩點(diǎn)間的電阻或通斷情況。 重復(fù)以上步驟多次,即可實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)電路板的測(cè)試。 由于被測(cè)試的點(diǎn)數(shù)比較多, 一般測(cè)試機(jī)都在2048點(diǎn)以上,測(cè)試控制電路比較復(fù)雜,測(cè)試點(diǎn)的查找方法以及切換方法直接影響測(cè)試機(jī)的測(cè)試速度,本文研究了基于FPGA的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)。 硬件控制系統(tǒng) 測(cè)試過(guò)程是在上位計(jì)算機(jī)的控制下,控
- 關(guān)鍵字: FPGA PCB 測(cè)試機(jī) 硬件電路
基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)
- 引言 PCB 光板測(cè)試機(jī)基本的測(cè)試原理是歐姆定律,其測(cè)試方法是將待測(cè)試點(diǎn)間加一定的測(cè)試電壓,用譯碼電路選中PCB 板上待測(cè)試的兩點(diǎn),獲得兩點(diǎn)間電阻值對(duì)應(yīng)的電壓信號(hào),通過(guò)電壓比較電路,測(cè)試出兩點(diǎn)間的電阻或通斷情況。 重復(fù)以上步驟多次,即可實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)電路板的測(cè)試。 由于被測(cè)試的點(diǎn)數(shù)比較多, 一般測(cè)試機(jī)都在2048點(diǎn)以上,測(cè)試控制電路比較復(fù)雜,測(cè)試點(diǎn)的查找方法以及切換方法直接影響測(cè)試機(jī)的測(cè)試速度,本文研究了基于FPGA的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)。 硬件控制系統(tǒng) 測(cè)試過(guò)程是在上位計(jì)算機(jī)的控制下
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千兆高速采集系統(tǒng)的硬件電路設(shè)計(jì)
- 1 ADC08D1000的結(jié)構(gòu) ADC08D1000是NS(National Semiconductor,國(guó)家半導(dǎo)體)公司于2005年推出的雙通道低功耗的高速8位A/D轉(zhuǎn)換器,其最高單通道采樣頻率達(dá)l.3 GHz,全功率帶寬(FPBW)為1.7 GHz,在500 MHz標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)輸入的情況下可以獲得7.4位的有效采樣位數(shù)。整個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器用單電源1.9V供電,內(nèi)帶高質(zhì)量參考源和高性能采樣保持電路,每個(gè)通道均為差分輸入,采樣范圍可選為650 mV或870 mV(峰一峰值)。在高速數(shù)/模轉(zhuǎn)換系統(tǒng)中,有
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硬件電路介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)硬件電路的理解,并與今后在此搜索硬件電路的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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