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          日本新技術實現(xiàn)磁盤記錄密度和容量增長

          • 山形富士通、富士通研究所、神奈川科學技術研究院(KAST)光科學重點研究所室益田研究小組共同努力,成功地以25nm間隔在氧化鋁上以一維方式排列出了納米孔(發(fā)布資料)。納米孔是通過陽極氧化形成的。不僅有望實現(xiàn)記錄密度達1Tbit/平米英寸的磁記錄,還能將硬盤磁記錄介質的記錄容量提高到現(xiàn)有產品的5倍以上。        在1月7日于美國巴爾的摩舉行的磁技術國際會議“JointMMM/Intermag Conference(MMM-
          • 關鍵字: 07展望  磁盤記錄  
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