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	離散傅立葉變換(dft)
          

          
	
          
    	
          
    	  	
          
              	
          
                	
          離散傅立葉變換(dft) 文章
                  進入離散傅立葉變換(dft)技術社區(qū)  
                  
          
                
          
                                
          
                  

                                
          
                    
          合見工軟發(fā)布測試向量自動生成工具，大幅加速集成電路測試
          
                                                            
            
                    	
          • 2023年10月12日——上海合見工業(yè)軟件集團有限公司（簡稱“合見工軟”）宣布推出擁有自主知識產(chǎn)權的商用級、高效測試向量自動生成工具UniVista Tespert ATPG，幫助工程師在進行大規(guī)模SoC集成電路設計中實現(xiàn)可測性設計（DFT），以降低測試成本，提升芯片質量和良率，縮短芯片設計周期，助力集成電路測試快速簽核，應對復雜集成電路架構帶來的挑戰(zhàn)。UniVista Tespert ATPG 創(chuàng)新自研多線程并行引擎，相比傳統(tǒng)單線程引擎，可以利用48線程實現(xiàn)高達29倍的提速，同時配合高效的測試向量生成算
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          • 關鍵字：
                        合見工軟  測試向量自動生成工具  DFT                          
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          英諾達發(fā)布DFT靜態(tài)驗證工具，提高IC設計質量及可靠性
          
                                                            
            
                    	
          • 英諾達（成都）電子科技有限公司發(fā)布了自主研發(fā)的靜態(tài)驗證EDA工具EnAltius?昂屹? DFT Checker，該工具可以在設計的早期階段發(fā)現(xiàn)與DFT相關的問題或設計缺陷。隨著芯片規(guī)模和復雜度的提升，芯片各種邏輯和電氣功能驗證的要求越來越高，多種RTL編碼風格、以及存在于電路設計中的結構性和功能性問題更容易成為設計上的缺陷，導致設計不斷修改，甚至造成流片失敗的風險。此外，設計重用性和IP的高集成度對模塊設計在正確性和一致性方面提出了更嚴格的要求，以提高IP集成的可靠性和成功率。上述芯片設計的挑戰(zhàn)可以通過
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          • 關鍵字：
                        英諾達  DFT  靜態(tài)驗證工具  IC設計                          
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          DFT、DTFT和DFS你搞清楚了嗎？ 
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　大家好，又到了每日學習的時間了，今天咱們來聊一聊數(shù)字信號處理中DFT、DTFT和DFS的關系，咱們通過幾幅圖來對比，探討一下哦?！　『芏嗤瑢W學習了數(shù)字信號處理之后，被里面的幾個名詞搞的暈頭轉向，比如DFT，DTFT，DFS，F(xiàn)FT，F(xiàn)T,FS等，F(xiàn)T和FS屬于信號與系統(tǒng)課程的內容，是對連續(xù)時間信號的處理，這里就不過多討論，只解釋一下前四者的關系?！　∈紫日f明一下，我不是數(shù)字信號處理專家，因此這里只站在學習者的角度以最淺顯易懂的性質來解釋問題，而不涉及到任何公式運算?！　W過卷積，我們都知道有時域卷積定
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          • 關鍵字：
                        DFT  DTFT  DFS                          
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          借助硬件加速仿真將 DFT 用于芯片設計
          
                                                            
            
                    	
          • 可測試性設計 (DFT) 在市場上所有的電子設計自動化 (EDA) 工具中是最不被重視的，縱然在設計階段提高芯片的可測試性將會大幅縮減高昂的測試成本，也是
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          • 關鍵字：
                        DFT  硬件加速  仿真芯片設計                          
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          低功耗制造性測試的設計-第二部分
          
                                                            
            
                    	
          • 假設設計的某個時鐘驅動了大量觸發(fā)器，以至它們的峰值開關動作超過設計的總體功率預算。我們不希望測試邏輯去改變任何時鐘，相反我們將設計分割成N個模塊，各模塊具有自己的掃描啟動引腳，并且包含自己的掃描壓縮邏輯和掃描鏈。(如圖2所示)模塊的數(shù)量和組成需要仔細選取，以便任何單個模塊(包括具有大部分觸發(fā)器的模塊)的觸發(fā)器開關速率不超過總功率預算。從這方面講，可以認為分割將功率預算硬連(hardwire)進了設計。
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          • 關鍵字：
                        ATPG  數(shù)字電路設計  SoC  DFT                          
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          低功耗制造測試的設計-第一部分
          
                                                            
            
                    	
          • 完全的數(shù)字電路測試方法通常能將動態(tài)功耗提高到遠超出其規(guī)范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導致晶圓檢測或預老化(pre-burn-in)封裝測試失效，而這需要花大量的時間和精力去調試。當在角落條件(corner conditions)下測試超大規(guī)模SoC時這個問題尤其突出，甚至會使生產(chǎn)線上出現(xiàn)不必要的良率損失，并最終減少制造商的毛利。避免測試功耗問題的最佳途徑是在可測試性設計(DFT)過程中結合可感測功率的測試技術。本文將首先介紹動態(tài)功耗與測試之間的關系，以說明為何功率管理現(xiàn)在比以往任何時候都迫切；然后介紹兩
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          • 關鍵字：
                        ATPG  DFT  數(shù)字電路測試                          
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          轉向使用即插即用的分層 DFT 的好處
          
                                                            
            
                    	
          • 一、背景傳統(tǒng)的全芯片ATPG正日漸衰退，對于許多現(xiàn)有的和未來的集成芯片器件來說，一項主要挑戰(zhàn)就是如何為龐...
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          • 關鍵字：
                        分層  DFT  即插即用  時鐘切換                          
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          硬件仿真正當時,DFT降低不良率
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 當今IC設計越來越復雜，已經(jīng)向10億門進發(fā)，同時需要更快的上市時間，20nm、3DIC也成為研發(fā)熱門。如何提高設計效率?Mentor Graphics公司董事長兼CEO Walden Rhines稱硬件仿真(emulation)是仿真的潮流。
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          • 關鍵字：
                        Mentor  IC  DFT                          
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          DFT測試方法之比較
          
                                                            
            
                    	
          • ASIC設計的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設計團隊將20%到50%的開發(fā)工作花費在與測試相關的問題上，以達到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設計(DFT)規(guī)則被認為是好做法，但對嵌入式RAM、多時鐘域、復位線和嵌入式IP的測
            • 
                    	                        
          • 關鍵字：
                        DFT  測試方法  比較                            
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          DFT的計算量
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • DFT的計算量,離散傅里葉變換在實際應用中是非常重要的，利用它可以計算信號的頻譜、功率譜和線性卷積等。但是，如果使用定義式(3.20)來直接計算DFT，當N很大時，即使使用高速計算機，所花的時間也太多。因此，如何提高計算DFT的速
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          • 關鍵字：
                        計算  DFT                          
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          基于架構與基于流程的DFT測試方法之比較
          
                                                            
            
                    	
          • ASIC設計的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設計團隊將20%到50%的開發(fā)工作花費在與測試相關的問題上，以達到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設計(DFT)規(guī)則被認為是好做法，但對嵌入式RAM、多時鐘域、復位線和嵌入式IP的測
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          • 關鍵字：
                        DFT  架構  測試方法  比較                            
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          Magma　最新版Talus Design面世
          
                                                            
            
                    	
          • 　　美國加州圣荷塞 2009年4月14日– 芯片設計解決方案供應商微捷碼（Magma®）設計自動化有限公司（納斯達克代碼：LAVA）日前宣布，該公司面向先進集成電路的全芯片綜合產(chǎn)品Talus® Design的最新版本正式面市。新版Talus® Design包括了一個增強的時序優(yōu)化引擎、改善的內存使用效率以及先進的生產(chǎn)率改進，比如：創(chuàng)新性可用性、更為靈活的先進腳本語言以及領先的第三方可測性設計（DFT）產(chǎn)品支持。同時，Talus Design與Talus Vortex相結
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          • 關鍵字：
                        Magma  RTL  DFT  Talus                          
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          微捷碼向LogicVision提供ATPG技術授權 
          
                                                            
            
                    	
          •         美國加州圣荷塞，芯片設計解決方案供應商微捷碼（Magma®）設計自動化有限公司日前宣布，公司已向領先的半導體內置自測（BIST）和診斷解決方案提供商LogicVision公司提供了自動測試向量生成（ATPG）技術的授權。通過這項協(xié)議，LogicVision公司將能夠更快拓展產(chǎn)品組合，為客戶提供更全面的可測性設計（DFT）功能以改善測試質量、縮短納米IC設計周期并降低納米IC成本。此外，兩家公司還簽署了一份單獨協(xié)議
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          • 關鍵字：
                        微捷碼  BIST  ATPG  DFT  IC                           
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          離散傅立葉變換(dft)介紹
          
      			
          
		      	
          
		      			      			      	您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條離散傅立葉變換(dft)!
           
		      	歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對離散傅立葉變換(dft)的理解，并與今后在此搜索離散傅立葉變換(dft)的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條
		      			      	
          
    		
          
  		
          
  		  		  		  		
  		  		  		
  		  		        		  		
          
    		
          
      			
          
        			
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(function(){
    var bp = document.createElement('script');
    var curProtocol = window.location.protocol.split(':')[0];
    if (curProtocol === 'https') {
        bp.src = 'https://zz.bdstatic.com/linksubmit/push.js';
    }
    else {
        bp.src = 'http://push.zhanzhang.baidu.com/push.js';
    }
    var s = document.getElementsByTagName("script")[0];
    s.parentNode.insertBefore(bp, s);
})();