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一種簡(jiǎn)化的MCU程序保護(hù)設(shè)計(jì)

受電磁干擾影響，單片機(jī)的程序讀取時(shí)會(huì)出錯(cuò)，最終造成程序走飛和數(shù)據(jù)出錯(cuò)。目前廣泛采用的看門(mén)狗技術(shù)只對(duì)部分程序走飛現(xiàn)象有效，而對(duì)程序執(zhí)行錯(cuò)造成的數(shù)據(jù)錯(cuò)無(wú)效。根據(jù)報(bào)道的受干擾而造成數(shù)據(jù)錯(cuò)概率統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，計(jì)算出引起MCU系統(tǒng)失效的概率已遠(yuǎn)大于功能安全要求的失效率。為了解決這一問(wèn)題，需要對(duì)讀取的程序指令加以檢驗(yàn)。國(guó)外有的單片機(jī)已經(jīng)添加了這一功能，即糾錯(cuò)編碼(ECC)。本文建議一種簡(jiǎn)化的檢驗(yàn)功能，它基于并行的CRC檢驗(yàn)，提出了求取并行CRC檢驗(yàn)邏輯的方法。
關(guān)鍵字：單片機(jī) 程序糾錯(cuò)編碼并行CRC

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