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元器件測(cè)試篩選先后次序的決定原則
- 0引言 電子信息技術(shù)是當(dāng)今新技術(shù)革命的核心，其技術(shù)基礎(chǔ)是電子元器件(以下簡(jiǎn)稱元器件)，其中大部分是微電子器件。元器件是電子設(shè)備和系統(tǒng)的基本單元，為了提高系統(tǒng)的可靠性，必須首先保證元器件的可靠性，但是即使高可靠性的元器件，在最好的生產(chǎn)工藝和生產(chǎn)控制下，仍然不可避免地會(huì)產(chǎn)生一些有缺陷、質(zhì)量不符合要求的產(chǎn)品。所以在裝機(jī)前對(duì)元器件進(jìn)行測(cè)試篩選就顯得尤其重要。 元器件的篩選測(cè)試是為了在施加各種環(huán)境和電的應(yīng)力，從而將元器件中的各種缺陷激發(fā)出來(lái)，以便確定元器件電性能是否失效。電性能失效可以分為連結(jié)性失效
- 關(guān)鍵字： 電子 信息 元器件 微電子 篩選 測(cè)試
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