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錯誤檢測與糾正電路的設(shè)計方案
- 針對一些惡劣的電磁環(huán)境對隨機存儲器(RAM)電路誤碼影響的情況,根據(jù)糾錯編碼的基本原理,提出簡單實用的能檢查兩位錯誤并自動糾正一位錯誤的EDAC算法;通過VHDL語言編程設(shè)計,由FPGA器件來實現(xiàn),并給出仿真結(jié)果。
引 言
在一些電磁環(huán)境比較惡劣的情況下,一些大規(guī)模集成電路常常會受到干擾,導(dǎo)致不能正常工作。特別是像RAM這種利用雙穩(wěn)態(tài)進行存儲的器件,往往會在強干擾下發(fā)生翻轉(zhuǎn),使原來存儲的0變?yōu)?,或者1變?yōu)?,造成的后果往往是
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