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納米測(cè)試
納米測(cè)試 文章 進(jìn)入納米測(cè)試技術(shù)社區(qū)
咱的納米有幾 安(A)、伏(V)?(下)
- 解決問(wèn)題：脈沖I-V測(cè)試 ——納米測(cè)試小技巧 在對(duì)納米器件進(jìn)行電流-電壓(I-V)脈沖特征分析時(shí)通常需要測(cè)量非常小的電壓或電流，因?yàn)槠渲行枰謩e加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應(yīng)。這里，低電平測(cè)量技術(shù)不僅對(duì)于器件的I-V特征分析而且對(duì)于高電導(dǎo)率材料的電阻測(cè)量都非常重要。利于研究人員和電子行業(yè)測(cè)試工程師而言，這一功耗限制對(duì)當(dāng)前的器件與材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑戰(zhàn)。 與微米級(jí)元件與材料的I-V曲線生成不同的是，對(duì)納米材料與器件的測(cè)量需要特殊的
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 納米測(cè)試 脈沖I-V測(cè)試
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納米測(cè)試介紹
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