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耦合測(cè)試
耦合測(cè)試 文章 進(jìn)入耦合測(cè)試技術(shù)社區(qū)
常見(jiàn)的手機(jī)天線測(cè)試方法
- 隨著移動(dòng)通信的飛速發(fā)展和應(yīng)用，中國(guó)的手機(jī)行業(yè)也不斷發(fā)展壯大，當(dāng)然中國(guó)的手機(jī)用戶也在迅猛增長(zhǎng)。而手機(jī)的射頻器件中，手機(jī)天線是無(wú)源器件，手機(jī) 天線作為手機(jī)上面唯一的一個(gè)“量身定做”的器件，它的特殊性和重要性必然要求其研發(fā)過(guò)程對(duì)天線性能的測(cè)試要求非常嚴(yán)格，這樣才能確保手機(jī)的正常使用?，F(xiàn)在 就簡(jiǎn)單的介紹一下手機(jī)天線的研發(fā)過(guò)程中的幾種常見(jiàn)的手機(jī)天線測(cè)試方法： 1、微波暗室(Anechonic chamber) 波暗室又叫無(wú)反射室、吸波暗室簡(jiǎn)稱(chēng)暗室。微波暗室由電磁屏蔽室、濾波與
- 關(guān)鍵字： 手機(jī) 天線 耦合測(cè)試
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耦合測(cè)試介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)耦合測(cè)試的理解，并與今后在此搜索耦合測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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