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高功放高壓聯(lián)鎖電路改進(jìn)與測(cè)試
- 高壓聯(lián)鎖性能的好壞直接影響設(shè)備能否正常工作。通過(guò)分析CPI高功放(HPA)的延時(shí)加高壓程序、高壓聯(lián)鎖電路和交流延時(shí)器工作原理，研究出一種新改進(jìn)的高壓聯(lián)鎖電路方案和用于交流延時(shí)器的測(cè)試方法。分析闡述表明，該方案和測(cè)試方法克服了CPI高功放的高壓聯(lián)鎖方案的弊端。另外，根據(jù)分析結(jié)果設(shè)計(jì)了延時(shí)測(cè)試電路，它可對(duì)交流延時(shí)器性能參數(shù)進(jìn)行定量測(cè)試。
- 關(guān)鍵字： 高功放 電路 測(cè)試 聯(lián)鎖
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聯(lián)鎖電路
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