脈沖測試文章進(jìn)入脈沖測試技術(shù)社區(qū)

延時(shí)校準(zhǔn)、脈沖測試一定要做的事兒！

進(jìn)行雙脈沖測試的主要目的是獲得功率半導(dǎo)體的開關(guān)特性，可以說它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應(yīng)用的整個(gè)生命周期?；陔p脈沖測試獲得的器件開關(guān)波形可以做很多事情，包括：通過對開關(guān)過程的分析驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)方案并提出改進(jìn)方向、提取開關(guān)特征參數(shù)制作器件規(guī)格書、計(jì)算開關(guān)損耗和反向恢復(fù)損耗為電源熱設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支撐、不同廠商器件開關(guān)特性的對比等。測量延時(shí)的影響被測信號在測量過程中會經(jīng)歷兩次延時(shí)，不同信號所經(jīng)歷延時(shí)的差別會對測量結(jié)果造成一定的影響。一次延時(shí)是示波器模擬前端的延時(shí)，索性示波器不同通道間延時(shí)差別在 ps 級別，對于
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隨著納米技術(shù)日新月異的發(fā)展，研究已深入到原子挨原子的分子級，構(gòu)造具有全新特性的新結(jié)構(gòu)。特別地，納米電子領(lǐng)域的發(fā)展十分迅速，其潛在影響涉及非常寬的行業(yè)領(lǐng)域。目前的納米電子研究的內(nèi)容主要是如何開發(fā)利用碳納米管、半導(dǎo)體納米線、分子有機(jī)電子和單電子器件。
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美國俄亥俄州克利夫蘭市2007年4月10日訊——新興測量需求解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布獲獎(jiǎng)產(chǎn)品——4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)的最新硬件和軟件升級版本，本次升級引入4200-SCS新一代脈沖測試功能。實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)的應(yīng)用將集成直流和脈沖測量功能與完整的應(yīng)用工具包結(jié)合，為用戶提供完整解決方案。功能增強(qiáng)的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導(dǎo)體技術(shù)生產(chǎn)和研究者們提供強(qiáng)大新功能。新升級版本不僅增強(qiáng)了吉時(shí)利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應(yīng)
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針對不斷增長的測量需求提供解決方案的行業(yè)領(lǐng)袖吉時(shí)利 (Keithley) 儀器公司(NYSE:KEI)，日前發(fā)布6.1版交互式KTEI，暨功能強(qiáng)大的KTEI（吉時(shí)利交互式測試環(huán)境）測量軟件之最新版本，適用于4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)。新版KTEI 6.1軟件增強(qiáng)了吉時(shí)利4200-PIV的脈沖I-V能力并顯著改進(jìn)脈沖和DC測量的相關(guān)性。脈沖測試正成為日益重要的新特性分析技術(shù)。高速脈沖避免了自加熱效應(yīng)可能造成的損壞并應(yīng)用于新半導(dǎo)體材料和器件的特性分析，例如高k柵層疊特性
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