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自動(dòng)化多通道測(cè)試
自動(dòng)化多通道測(cè)試 文章 進(jìn)入自動(dòng)化多通道測(cè)試技術(shù)社區(qū)
PCI Express Gen5:自動(dòng)化多通道測(cè)試
- _____對(duì)高速鏈路(如PCI Express?)的全面表征需要對(duì)被測(cè)鏈路的發(fā)送端(Tx)和接收端(Rx)進(jìn)行多差分通道的測(cè)量。由于需要在不同通道之間進(jìn)行同軸連接的物理切換,這對(duì)于完全自動(dòng)化的測(cè)試環(huán)境來(lái)說(shuō)是一個(gè)挑戰(zhàn)。引入RF開(kāi)關(guān)矩陣允許多通道測(cè)試中的物理連接切換,并實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化軟件測(cè)試。圖1 ZTM2-8SP6T-40模塊化開(kāi)關(guān)矩陣,帶有8個(gè)40GHz終端SP6T機(jī)械開(kāi)關(guān)PCI Express端口通常具有x1、x4、x8和x16的通道寬度,這給完全自動(dòng)化的Tx或Rx測(cè)試帶來(lái)了挑戰(zhàn)。將RF開(kāi)關(guān)包括在測(cè)試通道中
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自動(dòng)化多通道測(cè)試介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條自動(dòng)化多通道測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)自動(dòng)化多通道測(cè)試的理解,并與今后在此搜索自動(dòng)化多通道測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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