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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 自動(dòng)化測試

          NI發(fā)布《自動(dòng)化測試趨勢展望2013》

          •   美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)于近日發(fā)布《自動(dòng)化測試趨勢展望2013》,分享了公司對最新測試測量技術(shù)和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 本報(bào)告探究了受發(fā)展趨勢影響的各個(gè)行業(yè),包括航空航天和國防、汽車、消費(fèi)電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電信以及交通。 工程師和管理人員可以根據(jù)這份報(bào)告,采取最新策略和最佳方式來對測試公司進(jìn)行優(yōu)化。   《自動(dòng)化測試趨勢展望2013》中包含以下幾個(gè)趨勢:   測試中的經(jīng)濟(jì)學(xué): 新的投資模式迫使很多部門重新衡量成功的方式。   海量模擬數(shù)據(jù): 工業(yè)領(lǐng)先的
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          NI發(fā)布《自動(dòng)化測試趨勢展望2013》

          • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)于近日發(fā)布《自動(dòng)化測試趨勢展望2013》,分享了公司對最新測試測量技術(shù)和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 本報(bào)告探究了受發(fā)展趨勢影響的各個(gè)行業(yè),包括航空航天和國防、汽車、消費(fèi)電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電信以及交通。工程師和管理人員可以根據(jù)這份報(bào)告,采取最新策略和最佳方式來對測試公司進(jìn)行優(yōu)化。
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          使用NI軟件與PXI硬件,進(jìn)行高性能、點(diǎn)對多點(diǎn)的 高級無線電系統(tǒng)自動(dòng)化測試

          • NI軟硬件平臺的功能與靈活性,可幫助我們有效開發(fā)高度穩(wěn)定的測試系統(tǒng)、滿足客戶的所有需求,并能確保配合產(chǎn)品...
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          NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

          • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu),NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測試設(shè)置變得更為容易,擴(kuò)展了測試和報(bào)告的靈活性,讓工程師可在并行測試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
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          自動(dòng)化測試解決之道--構(gòu)建以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)

          基于PXI Express的NI FlexRIO模塊滿足自動(dòng)化測試需求

          • 自從1997年基于FPGA的可重配置I/O(RIO)產(chǎn)品在NIWeek圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)會議上首次亮相以來,NI已發(fā)布了多種基于NIR...
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          PXI TAC 2010:展望未來自動(dòng)化測試關(guān)鍵技術(shù)

          • 作為測試、測量和自動(dòng)化應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)平臺,PXI正在以年復(fù)合增長率17.6%的速度在多個(gè)行業(yè)得到應(yīng)用。而深受行業(yè)廠商及工程師歡迎的年度技術(shù)盛會 PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇(PXI Technology and Application Conference,簡稱PXI
          • 關(guān)鍵字: 2010  PXI  TAC  自動(dòng)化測試    

          利用NI LabVIEW優(yōu)化多核處理器環(huán)境下的自動(dòng)化測試

          • 多線程編程的挑戰(zhàn)迄今為止,處理器技術(shù)的創(chuàng)新為我們帶來了配有工作于更高時(shí)鐘速率的CPU的計(jì)算機(jī)。然而,隨著時(shí)鐘速率逼近其理論上的物理極限,人們開始投入到具備多個(gè)處理核的新型處理器的開發(fā)。借助這些新型多核處理
          • 關(guān)鍵字: LabVIEW  多核處理器  環(huán)境  自動(dòng)化測試    

          基于NI TestStand 和LabVIEW 開發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)

          • 行業(yè)趨勢:當(dāng)今市場上的挑戰(zhàn)當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測試成本越來越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加,所以...
          • 關(guān)鍵字: LabVIEW  自動(dòng)化測試  NI  TestStand  

          智能手機(jī)自動(dòng)化測試方案

          • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
          • 關(guān)鍵字: 東舟軟件  智能手機(jī)  自動(dòng)化測試  手機(jī)測試  

          泛華恒興參加華南自動(dòng)化展貨架、系統(tǒng)產(chǎn)品齊亮相

          • 作為致力于為各行業(yè)用戶提供專業(yè)測試測量解決方案和成套檢測設(shè)備的高新技術(shù)企業(yè),北京泛華恒興科技有限公司(簡稱:泛華恒興)參加了2012年深圳華南自動(dòng)化展,并參加了中國電源學(xué)會電源技術(shù)分會活動(dòng),這也是泛華首次有規(guī)模地參加華南市場的大型展會。
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          多路三軸光纖陀螺自動(dòng)化測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

          • 摘要 因三軸光纖陀螺的測試過程復(fù)雜、耗時(shí)長、測試效率低。提出了一種多路三軸光纖陀螺自動(dòng)測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)方案。敘述了測試系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)思想并給出了完成自動(dòng)化測試、軟件設(shè)計(jì)方法及組建方案。測試結(jié)果表明,該系統(tǒng)能
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          NI 發(fā)布《2012年自動(dòng)化測試趨勢展望》

          • 新聞要點(diǎn)   · 該趨勢展望報(bào)告探討了影響當(dāng)前和未來的電子行業(yè)的最新商業(yè)策略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O。   · 經(jīng)過多年的自動(dòng)化測試,NI從其商業(yè)關(guān)系、內(nèi)部專業(yè)知識和第三方研究中吸取經(jīng)驗(yàn),并提出了行業(yè)內(nèi)最新、最為全面的見解。   · 報(bào)告中著重介紹了新興的移動(dòng)設(shè)備如何改變行業(yè)架構(gòu),公司機(jī)構(gòu)如何通過建立測試組織來奠定各自的戰(zhàn)略優(yōu)勢。
          • 關(guān)鍵字: NI  自動(dòng)化測試  

          基于LabVIEW的汽車門把手傳感器測試系統(tǒng)

          • 本文介紹了一種基于NI-PCI的數(shù)據(jù)采集進(jìn)行設(shè)計(jì)的汽車門把手傳感器測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)針對BRIC型DHS的特殊外形和特殊測試需求,對系統(tǒng)的控制性和測量的準(zhǔn)確性做了優(yōu)良的設(shè)計(jì),提高了設(shè)備的自動(dòng)化程度。在保證了系統(tǒng)的安全性、可靠性和Poka-Yoke要求的同時(shí),也適合大批量、高穩(wěn)定性測試需要。
          • 關(guān)鍵字: 自動(dòng)化測試  傳感器  DHS  201201  
          共41條 2/3 « 1 2 3 »

          自動(dòng)化測試介紹

            自動(dòng)化測試   一般是指軟件測試的自動(dòng)化,軟件測試就是在預(yù)設(shè)條件下運(yùn)行系統(tǒng)或應(yīng)用程序,評估運(yùn)行結(jié)果,預(yù)先條件應(yīng)包括正常條件和異常條件。   1定義   自動(dòng)化測試 是把以人為驅(qū)動(dòng)的測試行為轉(zhuǎn)化為機(jī)器執(zhí)行的一種過程。通常,在設(shè)計(jì)了測試用例并通過評審之后,由測試人員根據(jù)測試用例中描述的規(guī)程一步步執(zhí)行測試,得到實(shí)際結(jié)果與期望結(jié)果的比較。在此過程中,為了節(jié)省人力、時(shí)間或硬件資源,提高測試效率,便 [ 查看詳細(xì) ]

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