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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備

          自動(dòng)測(cè)試設(shè)備系統(tǒng)中的組件電源設(shè)計(jì)

          • 組件電源(DPS)IC能夠彈性加載電壓、加載電流,為自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)提供動(dòng)態(tài)測(cè)試能力。當(dāng)負(fù)載電流在兩個(gè)可編程電流限值之間時(shí),DPS IC為電壓源,并且在達(dá)到設(shè)定的電流限值時(shí)平穩(wěn)轉(zhuǎn)換為精密電流源/灌電流。圖一為ADI新一代組件電源IC MAX32010的簡(jiǎn)化框圖。開(kāi)關(guān)FIMODE、FVMODE和FISLAVE MODE選擇不同的工作模式,例如:加載電壓(FV)、加載電流(FI)和FI Slave模式;開(kāi)關(guān)HIZF和HIZM分別選擇MV (電壓測(cè)量)和MI (電流測(cè)量)模式。RANGE MUX與外部檢流
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          Test Advantage 收購(gòu)Microstats

          • ?? Boston Semi Equipment Group(BSE 集團(tuán))旗下公司 Test Advantage 宣布已經(jīng)收購(gòu)了位于菲律賓的一家面向自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 市場(chǎng)的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產(chǎn)品、解決方案和共同的客戶群,以增強(qiáng) Test Advantage 在后端半導(dǎo)體市場(chǎng)的產(chǎn)品和服務(wù)。 ???
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          惠瑞捷獲“最佳測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商"大獎(jiǎng)

          •   首屈一指的半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷股份有限公司(納斯達(dá)克代號(hào):VRGY),本次于半導(dǎo)體業(yè)界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所舉辦的2011年客戶滿意度調(diào)查中榮膺“最佳測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商“與“10大最佳晶片制造設(shè)備大型供應(yīng)商“等兩大獎(jiǎng)項(xiàng)的肯定。   
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          BSE集團(tuán)收購(gòu)Test Advantage Hardware進(jìn)軍ATE資本設(shè)備

          •   為了向半導(dǎo)體行業(yè)提供融合了設(shè)備專長(zhǎng)與創(chuàng)新金融解決方案的獨(dú)特組合,業(yè)內(nèi)資深人士 Douglas Elder、Bryan Banish、Colin Scholefield 和 Sandy Garrett 今天宣布創(chuàng)辦 Boston Semi Equipment, LLC(BSE 集團(tuán))。BSE 集團(tuán)由私人集資,其目標(biāo)是在半導(dǎo)體設(shè)備行業(yè)設(shè)定新的基準(zhǔn),將創(chuàng)新金融解決方案與經(jīng)驗(yàn)、專長(zhǎng)和基礎(chǔ)設(shè)施結(jié)合起來(lái),以支持全新和二手半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備的租賃、銷售、訂制改造和服務(wù)。   傳統(tǒng)的資本設(shè)備融資解決方案過(guò)去一直無(wú)法支持
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          SOC芯片設(shè)計(jì)與測(cè)試

          •   摘要:SOC已經(jīng)成為集成電路設(shè)計(jì)的主流。SOC測(cè)試變得越來(lái)越復(fù)雜,在設(shè)計(jì)時(shí)必須考慮DFT和DFM。本文以一SOC單芯片系統(tǒng)為例,在其設(shè)計(jì)、測(cè)試和可制造性等方面進(jìn)行研究,并詳細(xì)介紹了SOC測(cè)試解決方案及設(shè)計(jì)考慮。 關(guān)鍵詞:?jiǎn)涡酒到y(tǒng);面向測(cè)試設(shè)計(jì);面向制造設(shè)計(jì);位失效圖;自動(dòng)測(cè)試設(shè)備     引言     以往的系統(tǒng)設(shè)計(jì)是將CPU,DSP,PLL,ADC,DAC或Memory等電路設(shè)計(jì)成IC后,再加以組合變成完整的系統(tǒng),但現(xiàn)今的設(shè)計(jì)方式是
          • 關(guān)鍵字: SOC  單芯片系統(tǒng)  面向測(cè)試設(shè)計(jì)  面向制造設(shè)計(jì)  位失效圖  自動(dòng)測(cè)試設(shè)備  
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          自動(dòng)測(cè)試設(shè)備介紹

          您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條自動(dòng)測(cè)試設(shè)備!
          歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的理解,并與今后在此搜索自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

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