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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 芯片測(cè)試

          消息稱(chēng)三星背面供電芯片測(cè)試結(jié)果良好,有望提前導(dǎo)入

          • IT之家 2 月 28 日消息,據(jù)韓媒 Chosunbiz 報(bào)道,三星電子近日在背面供電網(wǎng)絡(luò)(BSPDN)芯片測(cè)試中獲得了好于預(yù)期的成果,有望提前導(dǎo)入未來(lái)制程節(jié)點(diǎn)。傳統(tǒng)芯片采用自下而上的制造方式,先制造晶體管再建立用于互連和供電的線(xiàn)路層。但隨著制程工藝的收縮,傳統(tǒng)供電模式的線(xiàn)路層越來(lái)越混亂,對(duì)設(shè)計(jì)與制造形成干擾。BSPDN 技術(shù)將芯片供電網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)移至晶圓背面,可簡(jiǎn)化供電路徑,解決互連瓶頸,減少供電對(duì)信號(hào)的干擾,最終可降低平臺(tái)整體電壓與功耗。對(duì)于三星而言,還特別有助于移動(dòng)端 SoC 的小型化。▲&n
          • 關(guān)鍵字: 三星  BSPDN  芯片測(cè)試  

          CFCF 2022專(zhuān)訪(fǎng):是德科技

          • 這次光連接大會(huì)上,是德科技不僅展示了面向800G/1.6T測(cè)試的最新解決方案,是德大中華區(qū)市場(chǎng)部 負(fù)責(zé)光通信的杜吉偉經(jīng)理還就“數(shù)據(jù)中心下一代單通道224Gbps的技術(shù)挑戰(zhàn)及測(cè)試”做了精彩演講。
          • 關(guān)鍵字: 是德科技  光鏈接  芯片測(cè)試  

          測(cè)試探針國(guó)產(chǎn)化,道阻且長(zhǎng)

          • 芯片測(cè)試是確保產(chǎn)品良率和成本控制的重要環(huán)節(jié),主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書(shū)所規(guī)定的功能及性能指標(biāo),以此判斷芯片性能是否符合標(biāo)準(zhǔn),是否可以進(jìn)入市場(chǎng)。隨著產(chǎn)品進(jìn)入高性能 CPU、GPU、NPU、DSP 和 SoC 時(shí)代,芯片內(nèi)部集成的模塊越來(lái)越多,生產(chǎn)制造過(guò)程中的失效模式也相應(yīng)增多,芯片測(cè)試的重要性凸顯。測(cè)試探針就是芯片測(cè)試過(guò)程中的重要零部件之一。測(cè)試探針通常與測(cè)試機(jī)、分選機(jī)、探針臺(tái)配合使用,通過(guò)連接測(cè)試機(jī)來(lái)檢測(cè)芯片的導(dǎo)通、電流、功能和老化情況等性能指標(biāo),篩選出存在設(shè)計(jì)缺陷和制造缺陷的產(chǎn)品
          • 關(guān)鍵字: ?芯片測(cè)試  探針  

          泰瑞達(dá):瞄準(zhǔn)差異化蓬勃發(fā)展市場(chǎng) 助力客戶(hù)長(zhǎng)期價(jià)值

          • 對(duì)半導(dǎo)體設(shè)備廠(chǎng)商而言,2022年是個(gè)比較糾結(jié)的年份,一方面因?yàn)楫a(chǎn)能短缺引發(fā)的半導(dǎo)體晶圓廠(chǎng)大規(guī)模擴(kuò)產(chǎn)帶來(lái)龐大的市場(chǎng)增長(zhǎng)機(jī)遇,另一方面,受半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)預(yù)期低迷的影響,半導(dǎo)體晶圓廠(chǎng)又將面臨大范圍的產(chǎn)能縮減計(jì)劃。為此,很多半導(dǎo)體設(shè)備廠(chǎng)將業(yè)務(wù)重點(diǎn)開(kāi)始聚焦在一些芯片設(shè)計(jì)客戶(hù)領(lǐng)域,特別是聚焦在業(yè)務(wù)增長(zhǎng)比較迅猛,芯片設(shè)計(jì)復(fù)雜度較高的領(lǐng)域,比如汽車(chē)電子和工業(yè)市場(chǎng)。 芯片測(cè)試是這些年設(shè)備廠(chǎng)商中增長(zhǎng)較為迅速的領(lǐng)域,隨著芯片性能的日益提升,芯片集成度、復(fù)雜度越來(lái)越高,為了保證出廠(chǎng)的芯片品質(zhì),芯片測(cè)試環(huán)節(jié)越來(lái)越受到各大廠(chǎng)商的重視,以
          • 關(guān)鍵字: 泰瑞達(dá)  芯片測(cè)試  芯片設(shè)計(jì)  

          聯(lián)發(fā)科結(jié)盟中華電信 打造5G毫米波芯片測(cè)試環(huán)境

          • 聯(lián)發(fā)科技與中華電信今日宣布合作,于聯(lián)發(fā)科技新竹的研發(fā)總部打造5G毫米波芯片測(cè)試環(huán)境,其建置的5G非獨(dú)立組網(wǎng) (NSA) 訊號(hào)包含3.5GHz中頻 (帶寬90MHz) 及28GHz毫米波高頻頻段 (帶寬600MHz)。雙方除了在5G中頻及毫米波合作外,為了因應(yīng)日益蓬勃的5G企業(yè)專(zhuān)網(wǎng)終端設(shè)備需求,聯(lián)發(fā)科技提供芯片給國(guó)內(nèi)外廠(chǎng)商開(kāi)發(fā)專(zhuān)屬5G終端設(shè)備,并搭配于中華電信推廣之企業(yè)專(zhuān)網(wǎng)服務(wù)場(chǎng)域使用,雙方共同引領(lǐng)臺(tái)灣5G產(chǎn)業(yè)升級(jí)與轉(zhuǎn)型,打造堅(jiān)強(qiáng)實(shí)力,滿(mǎn)足各項(xiàng)智能生活應(yīng)用的傳輸需求。聯(lián)發(fā)科技與中華電信亦在多個(gè)面向進(jìn)行長(zhǎng)期技
          • 關(guān)鍵字: 聯(lián)發(fā)科  中華電信  5G  毫米波  芯片測(cè)試  

          半導(dǎo)體廠(chǎng)商如何做芯片的出廠(chǎng)測(cè)試

          • 半導(dǎo)體廠(chǎng)商如何做芯片的出廠(chǎng)測(cè)試-半導(dǎo)體廠(chǎng)商如何做芯片的出廠(chǎng)測(cè)試呢,這對(duì)芯片來(lái)說(shuō),是流片后或者上市前的必須環(huán)節(jié)。
          • 關(guān)鍵字: 半導(dǎo)體廠(chǎng)商  芯片測(cè)試  

          24位全國(guó)政協(xié)委員提案:芯片產(chǎn)業(yè)亟須突破性發(fā)展

          •   芯片產(chǎn)業(yè)亟須突破性發(fā)展   【提案人】   吳超等24位全國(guó)政協(xié)委員   【提案內(nèi)容】   集成電路產(chǎn)業(yè)也叫芯片產(chǎn)業(yè),是各國(guó)產(chǎn)業(yè)競(jìng)爭(zhēng)、科技競(jìng)爭(zhēng)、綜合實(shí)力競(jìng)爭(zhēng)的制高點(diǎn)。國(guó)際芯片產(chǎn)業(yè)制造工藝正由45—40納米向28—20納米快速演進(jìn),國(guó)際龍頭企業(yè)16—14納米芯片已研發(fā)成功,我國(guó)一旦落后必受制于人。我國(guó)是世界上最大的芯片消耗國(guó),但自己提供的芯片不足10%,主要原因是產(chǎn)業(yè)布局不集中,投入嚴(yán)重不足,龍頭企業(yè)不強(qiáng),核心技術(shù)受制于人。   【提案建議】   優(yōu)化產(chǎn)業(yè)
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          解決多總線(xiàn)系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試問(wèn)題的多域方法

          • 多總線(xiàn)IC設(shè)計(jì)的迅速涌現(xiàn)將使測(cè)試過(guò)程更為復(fù)雜,對(duì)于基于多時(shí)鐘域和高速總線(xiàn)的復(fù)雜IC設(shè)計(jì),傳統(tǒng)的ATE方法缺乏必要的多域支持和足夠的性能以確??焖俚?測(cè)試開(kāi)發(fā)和高效能。本文提出在測(cè)試復(fù)雜的多域IC過(guò)程中,可以使用
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          提高系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試效率的方法

          • 高度復(fù)雜的SoC設(shè)計(jì)正面臨著高可靠性、高質(zhì)量、低成本以及更短的產(chǎn)品上市周期等日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)??蓽y(cè)性設(shè)計(jì)通過(guò)提高電路的可測(cè)試性,從而保證芯片的高質(zhì)量生產(chǎn)和制造。借助于EDA技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)可測(cè)試性設(shè)計(jì)的自動(dòng)化,
          • 關(guān)鍵字: 系統(tǒng)級(jí)  方法  芯片測(cè)試  效率    

          基于FPGA的高性能DAC芯片測(cè)試與研究

          • D/A 轉(zhuǎn)換器作為連接數(shù)字系統(tǒng)與模擬系統(tǒng)的橋梁,不僅要求快速、靈敏,而且線(xiàn)性誤差、信噪比和增益誤差等也要滿(mǎn)足系統(tǒng)的要求[1]。因此,研究DAC 芯片的測(cè)試方法,對(duì)高速、高分辨率DAC 芯片的研發(fā)具有十分重要的意義。
          • 關(guān)鍵字: FPGA  DAC  性能  芯片測(cè)試    

          德州儀器收購(gòu)中國(guó)芯片廠(chǎng)計(jì)劃已進(jìn)入最后階段

          •   據(jù)國(guó)外媒體報(bào)道,兩位知情人士透露,美國(guó)芯片制造商德州儀器收購(gòu)中國(guó)一個(gè)芯片測(cè)試和封裝工廠(chǎng)的談判已經(jīng)進(jìn)入最后階段,估計(jì)該協(xié)議可能在兩個(gè)月內(nèi)完成。   據(jù)悉,上述工廠(chǎng)位于四川省成都市,價(jià)值約5億美元。其中一位知情人士稱(chēng):“成都市政府目前正與德州儀器就細(xì)節(jié)問(wèn)題進(jìn)行磋商。”目前中國(guó)最大的芯片制造商——中芯國(guó)際正按照與成都市政府的協(xié)議代管上述8英寸芯片工廠(chǎng)。   隨著經(jīng)濟(jì)復(fù)蘇,德州儀器正尋求擴(kuò)大其運(yùn)營(yíng)以準(zhǔn)時(shí)完成客戶(hù)的訂單,該公司正在德州建設(shè)一個(gè)新的工廠(chǎng),一旦建成
          • 關(guān)鍵字: 德州儀器  芯片制造  芯片測(cè)試  封裝  

          利用EDA工具提高系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試的效率

          • 高度復(fù)雜的SoC設(shè)計(jì)正面臨著高可靠性、高質(zhì)量、低成本以及更短的產(chǎn)品上市周期等日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)??蓽y(cè)性設(shè)計(jì)通過(guò)提高電路的可測(cè)試性,從而保證芯片的高質(zhì)量生產(chǎn)和制造。借助于EDA技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)可測(cè)試性設(shè)計(jì)的自動(dòng)化,
          • 關(guān)鍵字: EDA  系統(tǒng)級(jí)  芯片測(cè)試  效率    

          馬英九:不排除開(kāi)放12寸晶圓廠(chǎng)至大陸投資

          •   臺(tái)灣當(dāng)局領(lǐng)導(dǎo)人馬英九表示,將來(lái)臺(tái)灣放寬半導(dǎo)體供應(yīng)商到大陸投資,不排除開(kāi)放12寸晶圓,這個(gè)構(gòu)想正由“經(jīng)濟(jì)部”評(píng)估當(dāng)中。“經(jīng)濟(jì)部工業(yè)局”另指出,將在7月底提出制造業(yè)開(kāi)放登陸的檢討報(bào)告。   “總統(tǒng)府”新聞稿引述馬英九指出,英特爾(Intel)已經(jīng)前進(jìn)大陸投資,臺(tái)灣不能只把大陸看成工廠(chǎng),而是市場(chǎng),希望臺(tái)灣的產(chǎn)品能在大陸市場(chǎng)占有一席之地,這也是這次金融海嘯所帶來(lái)重要的教訓(xùn)。   “大陸內(nèi)需市場(chǎng)對(duì)我們而言很重要,所展現(xiàn)的潛力
          • 關(guān)鍵字: 晶圓  封裝  芯片測(cè)試  
          共13條 1/1 1

          芯片測(cè)試介紹

            芯片測(cè)試   設(shè)計(jì)初期系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試   SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝,因此,對(duì)Soc器件的測(cè)試需要采用全新的方法。由于每個(gè)功能元件都有其自身的測(cè)試要求,設(shè)計(jì)工程師必須在設(shè)計(jì)初期就做出測(cè)試規(guī)劃。   為SoC設(shè)備所做的逐塊測(cè)試規(guī)劃必須實(shí)現(xiàn):正確配置用于邏輯測(cè)試的ATPG工具;測(cè)試時(shí)間短;新型高速故障模型以及多種內(nèi)存或小型陣列測(cè)試。對(duì)生產(chǎn)線(xiàn)而言,診斷方法不僅要找到故障,而且還要將故障節(jié)點(diǎn)與 [ 查看詳細(xì) ]

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