設(shè)計和測試 文章 進入設(shè)計和測試技術(shù)社區(qū)
在射頻產(chǎn)品設(shè)計中將仿真與測量相結(jié)合
- 縮短產(chǎn)品開發(fā)周期一直以來都是研發(fā)機構(gòu)的主要目標。減少開發(fā)時間的方法之一是將設(shè)計和測試工作同步進行——即通常遵循V型圖產(chǎn)品開發(fā)模式。這種方法已經(jīng)應(yīng)用于汽車業(yè)和航空業(yè)。
- 關(guān)鍵字： NI EDA 設(shè)計和測試
| 共1條 1/1 1 |
設(shè)計和測試介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條設(shè)計和測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對設(shè)計和測試的理解，并與今后在此搜索設(shè)計和測試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對設(shè)計和測試的理解，并與今后在此搜索設(shè)計和測試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473