誤碼測試儀 文章 進(jìn)入誤碼測試儀技術(shù)社區(qū)
基于ADμC7020的高速誤碼測試儀
- 針對國內(nèi)外高速誤碼測試儀價(jià)格昂貴、系統(tǒng)復(fù)雜的現(xiàn)狀，采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和Silicon Laboratoties公司生產(chǎn)的XFP收發(fā)芯片Si5040，設(shè)計(jì)一種簡易、低成本的誤碼測試系統(tǒng)。系統(tǒng)由Si5040、ADμCT020和虛擬儀器Lab Windows／CVI組成。Si5040具有可編程的偽隨機(jī)碼比特流生成和比較功能，讀出誤碼值，通過ADμC7020計(jì)算得到誤碼率，并通過I2C接口與Lab Windows／CVI構(gòu)成的上位機(jī)進(jìn)行通信。
- 關(guān)鍵字： C7020 誤碼測試儀
高速突發(fā)模式誤碼測試儀的FPGA實(shí)現(xiàn)方案
- 摘要：突發(fā)模式誤碼測試儀與一般連續(xù)誤碼測試儀不同，其接收端在誤碼比對前要實(shí)現(xiàn)在十幾位內(nèi)，對具有相位跳變特點(diǎn)的信號進(jìn)行時(shí)鐘提取和數(shù)據(jù)恢復(fù)，并且在誤碼比對時(shí)須濾除前導(dǎo)碼和定界符，僅對有效數(shù)據(jù)進(jìn)行誤碼統(tǒng)計(jì)。
- 關(guān)鍵字： FPGA 模式 誤碼測試儀 實(shí)現(xiàn)方案
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誤碼測試儀介紹
誤碼測試儀是評估信道性能的基本測量儀器。通過檢測數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的誤碼性能指標(biāo)（包括誤碼率、誤碼間隔、無誤碼間隔等）對其系統(tǒng)傳輸質(zhì)量進(jìn)行評估。誤碼測試儀測量方法一經(jīng)提出，就在測量領(lǐng)域中獲得了廣泛的關(guān)注，諸多優(yōu)點(diǎn)已得到了廣泛認(rèn)可。 接口類型和速率齊全，功能完善，滿足多種數(shù)字信道測試要求； 體積小、攜帶方便，適合各種測試需求； 采用可充電鋰電池供電及低功耗設(shè)計(jì)，在鋰電池充足電的情況下能滿足4小時(shí) [ 查看詳細(xì) ]
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