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調(diào)試
調(diào)試 文章 進(jìn)入調(diào)試技術(shù)社區(qū)
調(diào)試FPGA硬件系統(tǒng)的一般步驟方法
- 在調(diào)試FPGA電路時(shí)要遵循一定的原則和技巧,才能減少調(diào)試時(shí)間,避免誤操作損壞電路。一般情況下,可以參考以下步驟進(jìn)行FPGA硬件系統(tǒng)的調(diào)試。
(1)首先在焊接硬件電路時(shí),只焊接電源部分。使用萬(wàn)用表進(jìn)行測(cè)試,排除電 - 關(guān)鍵字: FPGA 調(diào)試 硬件系統(tǒng) 方法
利用數(shù)字示波器調(diào)試嵌入式I2C總線
- 本文闡述了在實(shí)際開發(fā)中所遇到的I2C通信問題及使用示波器分析問題和解決問題的方法。 分析過程中采用了RIGOL公司最新推出的DS6104示波器,其具體特性包括:高達(dá)1GHz帶寬,足以滿足常用標(biāo)準(zhǔn)總線的帶寬需求;5GSa/s實(shí)
- 關(guān)鍵字: I2C 數(shù)字示波器 調(diào)試 嵌入式
總線實(shí)現(xiàn)片內(nèi)硬件調(diào)試支持單元設(shè)計(jì)
- 總線實(shí)現(xiàn)片內(nèi)硬件調(diào)試支持單元設(shè)計(jì),片上系統(tǒng)的出現(xiàn)使得芯片可以實(shí)現(xiàn)更加復(fù)雜的功能,獲取更高的性能,但同時(shí)其內(nèi)部信號(hào)也變得越來越難以觀察和控制,相應(yīng)的測(cè)試和調(diào)試工作也遇到了難以克服的時(shí)間復(fù)雜性困難。國(guó)際半導(dǎo)體技術(shù)路線圖( Internat io nal Te
- 關(guān)鍵字: 單元 設(shè)計(jì) 支持 調(diào)試 實(shí)現(xiàn) 硬件 總線
CMOS Sensor的調(diào)試經(jīng)驗(yàn)
- 目前,包括移動(dòng)設(shè)備在內(nèi)的很多多媒體設(shè)備上都使用了攝像頭,而且還在以很快的速度更新?lián)Q代。目前使用的攝像頭分為兩種:CCD(Charge Couple Device電荷偶合器件)和 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor互補(bǔ)
- 關(guān)鍵字: Sensor CMOS 調(diào)試 經(jīng)驗(yàn)
調(diào)試介紹
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