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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 過電損傷

          開關(guān)電源芯片的失效分析與可靠性研究

          • 摘要:隨著科技的飛速發(fā)展,電器設(shè)備的使用越來越廣泛,功能也越來越強大,體積也越來越小,導致了對 電源模塊要求在不斷增加。開關(guān)芯片在應用中失效,經(jīng)分析為電路設(shè)計本身可靠性差,導致開關(guān)芯片失效。本 文通過增加放電與限流貼片電阻,對電路設(shè)計優(yōu)化更改,使電路工作可靠性明顯提高,滿足電路設(shè)計需求,改善后應用失效大幅度減低。關(guān)鍵詞:弱電端短路;過電損傷;放電電阻;限流電阻;可靠性0 引言?現(xiàn)代電子設(shè)備對電源模塊的工作效率、體積以及安 全要求等技術(shù)性能指標要求越來越高,開關(guān)電源電路憑 借良好的性能在電
          • 關(guān)鍵字: 202208  弱電端短路  過電損傷  放電電阻  限流電阻  可靠性  
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          過電損傷介紹

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