運(yùn)算放大器 文章 進(jìn)入運(yùn)算放大器技術(shù)社區(qū)
什么原因毀掉了運(yùn)算放大器？
- 查明造成半導(dǎo)體器件損壞的電過載(EOS)事件的根源是有難度的，而EOS事件出現(xiàn)無規(guī)律性時(shí)難度會(huì)更大。為闡明如何才能對(duì)EOS事件追根溯源，在此用一個(gè)實(shí)例說明我們是如何幫助一位用戶辯認(rèn)兩種運(yùn)算放大器(op amps)的失效原因的。初步、檢查第一種運(yùn)算放大器OP1遭到一個(gè)大型的EOS事件，其許多電路部件受到損壞。第二種運(yùn)算放大器OP2的情形是EOS事件只損壞了一只薄膜電阻器。兩個(gè)運(yùn)算放大器都有一個(gè)或多個(gè)引腳無法進(jìn)行連續(xù)性測(cè)試—這是器件失效的第一個(gè)征兆。此外，OP1的其它幾個(gè)引腳呈現(xiàn)功能退化。無論OP1還是OP2
- 關(guān)鍵字： 放大器 設(shè)計(jì)應(yīng)用 運(yùn)算放大器 模擬IC 電源
運(yùn)算放大器介紹
目錄
歷史
原理
類型
主要參數(shù)
應(yīng)用
運(yùn)算放大器（常簡(jiǎn)稱為“運(yùn)放”）是具有很高放大倍數(shù)的電路單元。在實(shí)際電路中，通常結(jié)合反饋網(wǎng)絡(luò)共同組成某種功能模塊。由于早期應(yīng)用于模擬計(jì)算機(jī)中，用以實(shí)現(xiàn)數(shù)學(xué)運(yùn)算，故得名“運(yùn)算放大器”，此名稱一直延續(xù)至今。運(yùn)放是一個(gè)從功能的角度命名的電路單元，可以由分立的器件實(shí)現(xiàn)，也可以實(shí)現(xiàn)在半導(dǎo)體芯片當(dāng)中。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，如今絕大部分的運(yùn) [ 查看詳細(xì) ]
運(yùn)算放大器電路
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