配置數(shù)據(jù) 文章進(jìn)入配置數(shù)據(jù)技術(shù)社區(qū)

基于ATE的FPGA測試

隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展，F(xiàn)PGA的應(yīng)用越來越廣泛，其測試技術(shù)也得到了廣泛重視和研究。文章簡要介紹了FPGA的發(fā)展及其主要組成部分，提出了一種用ATE對(duì)FPGA進(jìn)行測試的方法和具體測試流程。
關(guān)鍵字： AutomaticTestEquipment 配置數(shù)據(jù) FPGA

在當(dāng)今變化的市場環(huán)境中，產(chǎn)品是否便于現(xiàn)場升級(jí)、是否便于靈活使用，已成為產(chǎn)品能否進(jìn)入市場的關(guān)鍵因素。在這種背景下，altera公司的基于SRAM LUT結(jié)構(gòu)的FPGA器件得到了廣泛的應(yīng)用。這類器件的配置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在SRAM中。由于SRAM的掉電易失性，系統(tǒng)每次上電時(shí)，必須重新配置數(shù)據(jù)，只有在數(shù)據(jù)配置正確的情況下系統(tǒng)才能正常工作。這種器件的優(yōu)點(diǎn)是可在線重新配置ICR（In-Circuit Reconfigurability），在線配置方式一般有兩類：一是通過下載電費(fèi)由計(jì)算機(jī)直接對(duì)其進(jìn)行配置；二是通過微處理器對(duì)其
關(guān)鍵字： altera FPGA 單片機(jī) 可編程邏輯配置數(shù)據(jù) 嵌入式系統(tǒng)

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