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閉環(huán)測(cè)試
閉環(huán)測(cè)試 文章 進(jìn)入閉環(huán)測(cè)試技術(shù)社區(qū)
CMOS技術(shù)緩解了RF電路在SoC中的集成挑戰(zhàn)
- 隨著半導(dǎo)體制造能力允許在單塊芯片上集成數(shù)千門(mén)邏輯電路，系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)開(kāi)始占據(jù)未來(lái)IC技術(shù)的中心。數(shù)字RF...
- 關(guān)鍵字： 集成 SoC 數(shù)字RF CMOS工藝 自校準(zhǔn) 閉環(huán)測(cè)試 物理實(shí)現(xiàn) 變?nèi)荻O管 缺陷密度 去耦電容
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閉環(huán)測(cè)試介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)閉環(huán)測(cè)試的理解，并與今后在此搜索閉環(huán)測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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