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隨機(jī)測(cè)試向量
隨機(jī)測(cè)試向量 文章 進(jìn)入隨機(jī)測(cè)試向量技術(shù)社區(qū)
基于隨機(jī)測(cè)試的SoC系統(tǒng)級(jí)功能驗(yàn)證方法的研究
- 為了克服RTL級(jí)驗(yàn)證方法的局限性，提出了采用隨機(jī)測(cè)試向量在SoC的系統(tǒng)級(jí)進(jìn)行功能驗(yàn)證的方法。該方法采用高級(jí)建模語(yǔ)言來(lái)構(gòu)建系統(tǒng)級(jí)的測(cè)試平臺(tái)，采用多種隨機(jī)化機(jī)制來(lái)生成測(cè)試向量。測(cè)試結(jié)果表明,該方法不僅能夠獲得較好的功能覆蓋率，而且能夠盡可能早地發(fā)現(xiàn)SoC設(shè)計(jì)中的功能性錯(cuò)誤。
- 關(guān)鍵字： RTL級(jí)驗(yàn)證 系統(tǒng)級(jí)功能驗(yàn)證 隨機(jī)測(cè)試向量
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隨機(jī)測(cè)試向量介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)隨機(jī)測(cè)試向量的理解，并與今后在此搜索隨機(jī)測(cè)試向量的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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