集成電路自動測試設(shè)備ic測試ate測 文章 進入集成電路自動測試設(shè)備ic測試ate測技術(shù)社區(qū)
IC測試基本原理與ATE測試向量生成
- 集成電路測試（IC測試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高，集成電路的測試方法也變得越來越困難。因此，研究...
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集成電路自動測試設(shè)備ic測試ate測介紹
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