EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪
高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪 文章 進(jìn)入高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪技術(shù)社區(qū)
高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用研究--高阻器件噪聲測(cè)試技術(shù)的驗(yàn)證和應(yīng)用
- 4.1電壓噪聲測(cè)試技術(shù)的驗(yàn)證4.1.1測(cè)試技術(shù)驗(yàn)證方案及驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)為了驗(yàn)證該系統(tǒng)的可靠性，我們采用圖3.9中的測(cè)試方法對(duì)1M的厚膜電阻進(jìn)行了電壓噪聲測(cè)試，其中Rx為待測(cè)阻值為1M的厚膜電阻，Rt為400K繞線(xiàn)電阻，R1為25K可變繞線(xiàn)電...
- 關(guān)鍵字： 高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪
| 共1條 1/1 1 |
高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪的理解，并與今后在此搜索高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪的理解，并與今后在此搜索高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473