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          物理學(xué)家發(fā)現(xiàn)未來奈米晶片設(shè)計大障礙

          •   一群來自加拿大麥基爾大學(xué)(McGillUniversity)的物理學(xué)家們證實,當(dāng)導(dǎo)線是由兩種不同的金屬組成時,電流有可能會大幅度降低;這意味著未來的半導(dǎo)體設(shè)計可能遇到障礙。   上述研究人員是與美國汽車大廠通用(GM)研發(fā)部門共同合作,發(fā)現(xiàn)讓人驚訝的電流遽降現(xiàn)象;顯示在新興的納米電子領(lǐng)域,材料的選擇與元件設(shè)計可能會成為一大挑戰(zhàn)。隨著半導(dǎo)體元件尺寸持續(xù)微縮,未來晶片的設(shè)計工程師將需要了解,當(dāng)金屬導(dǎo)線直徑被局限到僅有數(shù)個原子寬時,電荷的行為模式是如何變化。   麥基爾大學(xué)物理學(xué)教授PeterGrutt
          • 關(guān)鍵字: 麥基爾  半導(dǎo)體  納米  
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          麥基爾介紹

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