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基于線性提升和高速低噪聲比較器技術(shù)的10 bit 160 MSPS SAR ADC設(shè)計
- 基于采樣管p阱浮空技術(shù)用于寄生電容電荷補償,實現(xiàn)采樣開關(guān)高線性度。使串聯(lián)的兩個寄生電容的容值變化方向相反,從而實現(xiàn)了容值的相互補償,使輸入管的寄生電容容值不隨輸入信號幅度變化,相較傳統(tǒng)技術(shù),采樣開關(guān)的線性度得到進一步提高。另一方面,提出了一種高速低噪聲動態(tài)比較器技術(shù),減小了MOS管的導(dǎo)通電阻,增加了比較器速度,通過襯底自舉技術(shù),使比較器輸入管的閾值電壓明顯降低,跨導(dǎo)增加,從而降低了比較器的等效輸入噪聲,解決了動態(tài)比較器速度和噪聲之間必須進行折中的技術(shù)難點。
- 關(guān)鍵字: 10 bit 160 MSPS 采樣管p阱浮空技術(shù) 高速低噪聲比較器 202112
中國電子學(xué)會Xilinx開放源碼硬件創(chuàng)新大賽53支強隊入圍復(fù)賽
- ? 自2007年6月正式開始的覆蓋全國高校的“中國電子學(xué)會Xilinx開放源碼硬件創(chuàng)新大賽”初賽經(jīng)過大賽組委會的認真篩選,來自34所高校的53支隊伍從170多支參賽隊伍中脫穎而出,入圍復(fù)賽階段。入圍隊伍中,大連理工,清華,電子科大,?西安電子科大等表現(xiàn)突出,?僅大連理工就有6支隊伍進入復(fù)賽?! ¢_賽以來,包括清華、北大、中國電子科技大學(xué)、西安電子科技大學(xué)、中國科技大學(xué)等在內(nèi)的近50所高校學(xué)生踴躍報名,?共有170多只隊伍的1000多位在校研究生和博士生在導(dǎo)師的帶領(lǐng)
- 關(guān)鍵字: Xilinx SRC BIT 消費電子
BIT技術(shù)在裝備控制系統(tǒng)故障診斷中的應(yīng)用
- BIT系統(tǒng) 內(nèi)裝測試及自診斷系統(tǒng)包括信號調(diào)理模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)存儲模塊、故障診斷、自激勵模塊和通訊電纜輸出模塊六部分(見圖1)。模擬電壓采集中信號調(diào)理電路負責完成對信號的差分放大、濾波和限幅等調(diào)理工作。邏輯量、頻率量、時間量和脈沖量采集中的信號調(diào)理電路負責完成對信號的限幅和數(shù)據(jù)緩沖等調(diào)理工作。光電隔離主要是為了把所測量的信號和計算機相隔離,這樣可以確保數(shù)據(jù)采集的讀數(shù)不會受到接地電勢差或共模電壓的影響。數(shù)據(jù)存儲模塊主要用來存儲一些內(nèi)裝測試及自診斷系統(tǒng)的診斷信息,包括測量的數(shù)字信息、設(shè)備上的模
- 關(guān)鍵字: BIT A/D 裝備控制
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