201001 文章 進(jìn)入201001技術(shù)社區(qū)
熱量表的流量自動標(biāo)定系統(tǒng)的設(shè)計
- 為了實現(xiàn)熱量表的流量自動標(biāo)定和提高標(biāo)定效率，采用高精度的稱重法設(shè)計了熱量表的流量自動標(biāo)定系統(tǒng)。
- 關(guān)鍵字： 熱量表 流量 自動標(biāo)定 MSP430F149 主控芯片 201001
基于改進(jìn)遺傳算法的支持向量機特征選擇
- 針對支持向量機在分類過程中的特征選擇問題，提出了一種改進(jìn)的遺傳算法。在演化進(jìn)程中運用Meteopolis準(zhǔn)則通過合理選群來防止進(jìn)化陷入局部極值區(qū)域。最后針對UCI數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)，通過將該算法與其他幾種方法進(jìn)行了比較，證明了本文算法具有較優(yōu)的特征選擇效果，并已成功應(yīng)用在基于支持向量機的數(shù)字電路板故障診斷中。
- 關(guān)鍵字： 支持向量機 互敏感度信息量 獨立敏感度信息量 自適應(yīng)變異率 Meteopolis準(zhǔn)則 201001
基于JTAG邊界掃描方式的重構(gòu)控制器的設(shè)計
- 為充分利用硬件資源，滿足不同的應(yīng)用需求,本文提出了一種基于JTAG邊界掃描模式配置的重構(gòu)控制器，詳細(xì)介紹控制器的硬件實現(xiàn)以及配置流程，該控制器通過模擬JTAG接口時序及TAP狀態(tài)機的功能，實現(xiàn)在系統(tǒng)配置目標(biāo)可編程器件。
- 關(guān)鍵字： FPGA TAP狀態(tài)機 JTAG邊界掃描 重構(gòu) 201001
BIT技術(shù)在裝備控制系統(tǒng)故障診斷中的應(yīng)用
- 在分析了內(nèi)裝測試關(guān)鍵技術(shù)基礎(chǔ)上，設(shè)計了一套基于ADuC812且集各種檢測功能于一體的BIT測試設(shè)備，詳細(xì)介紹了系統(tǒng)設(shè)計方案。
- 關(guān)鍵字： 內(nèi)裝測試 實時監(jiān)測 ADuC812 故障診斷 201001
基于LabVIEW的機械振動信號分析系統(tǒng)的開發(fā)
- 結(jié)合旋轉(zhuǎn)機械設(shè)備的典型故障特征，設(shè)計開發(fā)了一個基于LabVIEW的信號分析處理系統(tǒng), 可以實現(xiàn)常用的信號分析處理方法。該系統(tǒng)可讀取、存儲不同類型的數(shù)據(jù)格式，對采集的信號從幅域、時域、頻域三個不同角度進(jìn)行分析處理，提取信號的特征信息，用于旋轉(zhuǎn)機械故障的初步診斷。通過對轉(zhuǎn)子、軸承、齒輪的實際振動數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，驗證了系統(tǒng)的正確性與可行性。
- 關(guān)鍵字： 虛擬儀器 LabVIEW 故障診斷 振動信號分析處理 201001
芯片高速仿真的創(chuàng)新
- 目前IC設(shè)計中，軟件工作量越來越大(圖1)，在65nm設(shè)計成本統(tǒng)計中，軟件已占50%，驗證占30%，其他還有樣機、確認(rèn)(Validation)、物理、架構(gòu)。隨著工藝節(jié)點向45nm、32nm、22nm發(fā)展，軟件的比例將超過50%，同時驗證工作量將維持30%左右。可見，由于軟件的增長將使軟硬件協(xié)同仿真成為一個重要環(huán)節(jié)。當(dāng)前，CPU、圖形、無線、DTV/STB、數(shù)碼相機/攝像機、多功能打印機等芯片需要軟硬件協(xié)同仿真。 在Gary Smith EDA公司《2009年RTL市場趨勢分析報告》中指出，E
- 關(guān)鍵字： IC設(shè)計 EDA 65nm 201001
新產(chǎn)品
- 一些新興公司的產(chǎn)品引起了人們的關(guān)注。 MaxLinear的電視/機頂盒調(diào)諧器IC 通過采用CMOS寬帶RF/混合信號SoC技術(shù)，MaxLinear公司推出用于DTV、有線電視和移動用調(diào)諧器—解調(diào)器SoC。該公司產(chǎn)品系列分為三類：滿足多標(biāo)準(zhǔn)的TV調(diào)諧器MxL30xRF系列;有線電視用TV調(diào)諧器與SoC—MxL20xRF、MxL241SF;用于移動電視的MxL751SM，是符合ISDB-T的調(diào)諧器—解調(diào)器，在LNA(低噪聲放大器)、SNR(信噪比)與成本方面
- 關(guān)鍵字： Sequans TD-LTE USB網(wǎng)卡 201001
電源產(chǎn)品的趨勢與創(chuàng)新
- 電源及電源管理解決方案是熱門，也是這次Aisapress的熱門話題之一。 首先，F(xiàn)airchild擺開了電源解決方案龍門陣。 外部適配器 據(jù)Darnell公司的分析，AC-DC外部電源2009年達(dá)到22億件，2013年將達(dá)到33億件，年復(fù)合增長率可為11.1%(圖1)。 從應(yīng)用角度看(圖2)，最大的增長部分是通信，主要由移動手機驅(qū)動，預(yù)計2013年將達(dá)到23億件，其中小于75W的產(chǎn)品主要由通信市場驅(qū)動。 Fairchild的創(chuàng)新產(chǎn)品有75W以下PWM控制器。通常，
- 關(guān)鍵字： Fairchild 電源管理 外部電源 PWM控制器 201001
IC測試的創(chuàng)新
- EDA工具加速IC測試 隨著IC制程節(jié)點從90nm向65nm和45nm延伸，需要測試的數(shù)據(jù)量會激增，相應(yīng)地會帶來測試成本的提高(圖1)。例如，從90nm到65nm時，由于增加了門數(shù)，傳統(tǒng)的測試量急劇增加;同時，在速(at-speed)測試也成倍增加，這是由于時序和信號完整性的敏感需求;到了45nm時代，在前兩者的基礎(chǔ)上，又增加了探測新缺陷的測試。 為了提高測試效率，對測試數(shù)據(jù)的壓縮持續(xù)增長。據(jù)ITRS(國際半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展路線圖)預(yù)測(圖2)，2010年的壓縮需求比2009年翻番。
- 關(guān)鍵字： EDA IC測試 65nm 45nm 201001
2010請帶著希望上路
- 對于整個電子產(chǎn)業(yè)來說，2009是個幸福缺失的年份，不管我們?nèi)绾瓮春捱@一場金融風(fēng)暴帶來的腥風(fēng)血雨，至少我們已經(jīng)撕去了屬于2009年最后一頁日歷，迎來了嶄新年輪的開始。既然最黑暗的時刻都已經(jīng)挺過來了，未來總會比現(xiàn)在光明些吧。 從2008年四季度開始的這場金融風(fēng)暴，在重創(chuàng)了全球經(jīng)濟的同時，不可避免地將整個電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)展水平拉回了2001年。經(jīng)歷過2008年的全行業(yè)深淵性墜落之后，在一片肅殺悲觀中到來的2009堪稱整個產(chǎn)業(yè)驚心動魄的一年，多家分析機構(gòu)不斷下調(diào)對半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的預(yù)期，最可怕的數(shù)據(jù)預(yù)測整
- 關(guān)鍵字： 邏輯電路 微處理器 存儲器 摩爾定律 201001
陣列處理器系統(tǒng)芯片的發(fā)展
- 本文從數(shù)據(jù)流動的計算模式、并行計算的陣列芯片、應(yīng)用演變的數(shù)學(xué)技術(shù)、以及硅基芯片的制造技術(shù)等4個方面，研究了陣列處理器系統(tǒng)芯片的發(fā)展，提出了一種統(tǒng)一體系結(jié)構(gòu)的陣列處理器系統(tǒng)芯片，簡稱APU系統(tǒng)芯片。
- 關(guān)鍵字： 嵌入式計算 系統(tǒng)芯片 陣列處理器 計算模式 201001
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