atefpga測(cè)試 文章 進(jìn)入atefpga測(cè)試技術(shù)社區(qū)
基于ATE的FPGA測(cè)試方法
- 本文以Xilinx公司基于SRAM的FPGA XC4010為研究對(duì)象，將FP-GA配置成兩種電路來完成對(duì)可編程邏輯模塊(CLB)的測(cè)試，并闡述了如何在Teradyne商用ATE(Automatic Test Equipment)J750上實(shí)現(xiàn)FPGA的在線配置及測(cè)試，為FPGA面向應(yīng)用的測(cè)試提供一種有效的方法。
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atefpga測(cè)試介紹
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