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芯測科技提供便捷版內(nèi)存測試方案EZ-BIST
- 中美貿(mào)易戰(zhàn)持續(xù)延燒，引發(fā)后續(xù)波及全球的貿(mào)易戰(zhàn)爭，當中更是突顯知識產(chǎn)權(quán)合法的重要性。有鑒于此，深耕于開發(fā)內(nèi)存測試與修復技術(shù)的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱iSTART)為了協(xié)助客戶對知識產(chǎn)權(quán)領域規(guī)避嚴重失信的風險，日前推出最新便捷版內(nèi)存內(nèi)建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用于MCU相關的系統(tǒng)芯片開發(fā)商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內(nèi)存測試開發(fā)工具，可協(xié)助客戶快速的開發(fā)產(chǎn)品，避免忽略內(nèi)存測試的細節(jié)而導致產(chǎn)品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音識
- 關鍵字： 芯測 EZ-BIST
直接合成方法簡化串行數(shù)據(jù)接收機極限測試
- 多年來，寬同步并行總線一直是在數(shù)字設備之間交換數(shù)據(jù)的既定的實現(xiàn)技術(shù)。但是，定時問題一直“折磨著”較高時鐘頻率和數(shù)據(jù)速率的并行總線，嚴重地限制了它們滿足服務器和圖形系統(tǒng)中更高速計算結(jié)構(gòu)需求的能力。在過去幾年中，串行總線技術(shù)的普遍實施變革了計算行業(yè)。串行總線只發(fā)送一條碼流，“自行獲得時鐘輸入”，從而消除了與并行技術(shù)有關的定時偏移。在串行傳輸中，同步遠不是什么問題，解決了對整體吞吐量的結(jié)構(gòu)限制。結(jié)果，串行數(shù)據(jù)速率已經(jīng)提高到1Gb/s以上，當前實現(xiàn)方案已經(jīng)接近3
- 關鍵字： AWG BIST 串行
沒有ATE生成向量的精密測試(04-100)
- 消費類電子產(chǎn)品正在變得更復雜和更快速，因而使得測試成本成為問題。大的和復雜的SoC往往是消費類產(chǎn)品的心臟，不管它們的性能多么先進，其成本必須是低的。 各種內(nèi)裝自測試(BIST)已應用于測試DUT(被測器件)的內(nèi)部性能，導致產(chǎn)品較低的生產(chǎn)成本。剩下的主要問題是快速串行接口(如PCI Express，Serial ATA，F(xiàn)ibreChannel和Serial RapidIO)的全面測試。這些高速鏈路在計算、通信和音視頻娛樂前進中是不可缺少的。 重視測試成本是一個重要的問題，設計人員已應用BI
- 關鍵字： BIST DUT
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