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原子級工藝實現(xiàn)納米級圖形結(jié)構(gòu)的要求
- 原子層刻蝕和沉積工藝利用自限性反應，提供原子級控制。泛林集團先進技術(shù)發(fā)展事業(yè)部公司副總裁潘陽博士?分享了他對這個話題的看法。圖 1.?原子層工藝中的所有半周期反應是自限性反應。技術(shù)節(jié)點的每次進步都要求對制造工藝變化進行更嚴格的控制。最先進的工藝現(xiàn)在可以達到僅7 nm的fin寬度，比30個硅原子稍大一點。半導體制造已經(jīng)跨越了從納米級到原子級工藝的門檻。工程師現(xiàn)在必須關(guān)注結(jié)構(gòu)的尺寸變化，僅相當于幾個原子大小。由于多重圖案模式等復雜集成增加了工藝數(shù)量，進一步限制了每個步驟允許的變化。3D N
- 關(guān)鍵字： ALE ALD CER EPE SAC CAR
高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換誤差率的解密
- 高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)存在一些固有限制，使其偶爾會在其正常功能以外產(chǎn)生罕見的轉(zhuǎn)換錯誤。但是，很多實際采樣系統(tǒng)不容許存在高ADC轉(zhuǎn)換誤差率。因此，量化高速模數(shù)轉(zhuǎn)換誤差率(CER)的頻率和幅度非常重要。 高速或GSPS ADC(每秒千兆采樣ADC)相對稀疏出現(xiàn)的轉(zhuǎn)換錯誤不僅造成其難以檢測，而且還使測量過程非常耗時。該持續(xù)時間通常超出毫秒范圍，達到幾小時、幾天、幾周甚至是幾個月。為了幫助消減這一耗時測試負擔，可以在一定“置信度”的確定性情況下估算誤差率，而仍然保持結(jié)果的質(zhì)量。 誤碼率(BER
- 關(guān)鍵字： ADC CER
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cer介紹
目錄
1 CER
2 相關(guān)術(shù)語
3 數(shù)字證書的原理
4 數(shù)字證書
CER-CER
用于存儲公鑰證書的文件格式。
CER-相關(guān)術(shù)語
公鑰和私鑰就是俗稱的不對稱加密方式，是從以前的對稱加密（使用用戶名與密碼）方式的提高。用電子郵件的方式說明一下原理。
使用公鑰與私鑰的目的就是實現(xiàn)安全的電子郵件，必須實現(xiàn)如下目的：
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