dft掃描芯片測(cè) 文章 進(jìn)入dft掃描芯片測(cè)技術(shù)社區(qū)
基于掃描的DFT對(duì)芯片測(cè)試的影響
- 隨著ASIC電路結(jié)構(gòu)和功能的日趨復(fù)雜，與其相關(guān)的測(cè)試問題也日益突出。在芯片測(cè)試方法和測(cè)試向量生成的研究過程中,如何降低芯片的測(cè)試成本已
- 關(guān)鍵字： DFT掃描芯片測(cè)
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dft掃描芯片測(cè)介紹
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