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簡(jiǎn)述嵌入式邏輯分析儀在FPGA測(cè)試中的應(yīng)用

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關(guān)鍵字： FPGA ELA 邏輯分析儀

通過(guò)對(duì)FPGA內(nèi)部信號(hào)的捕獲測(cè)試，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)缺陷的實(shí)時(shí)分析和修正。與外部測(cè)試設(shè)備相比，可以總結(jié)出SignalTapII ELA的幾點(diǎn)優(yōu)越性：不占用額外的I／O引腳，不占用PCB上的空間，不破壞信號(hào)的時(shí)序和完整性，不需額外費(fèi)用；從多方面證實(shí)，該測(cè)試手段可以減少調(diào)試時(shí)間，縮短設(shè)計(jì)周期。
關(guān)鍵字： SignalTapII FPGA ELA 在線調(diào)試

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