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          當(dāng)RF遇到模擬信號和數(shù)字信號–EMI測試
          
                                                            
            
                    	
          • 當(dāng)前，對工程師們來說，EMI (電磁干擾)和EMC (電磁兼容性)即使不算災(zāi)難，也算是非常棘手的任務(wù)。這是因為如果沒適 ...
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          • 關(guān)鍵字：
                        RF  模擬信號  數(shù)字信號  EMI測試                          
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          R&S全面電磁兼容和射頻微波創(chuàng)新方案亮相首屆電子設(shè)計創(chuàng)新會議
          
                                                            
            
                    	
          • 由Microwave Journal 和《微波雜志》(Microwave Journal China)主辦的首屆電子設(shè)計創(chuàng)新會議(Electronic Design Innovation Conference，EDI CON 2013)將于2013年3月12日-14日在中國北京舉辦。
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          • 關(guān)鍵字：
                        羅德  EMI測試                          
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