emvision 文章 進(jìn)入emvision技術(shù)社區(qū)
應(yīng)用材料公司推出全新SEMVision G4缺陷再檢測系統(tǒng)
- 近日，應(yīng)用材料公司推出最先進(jìn)的缺陷再檢測SEM(掃描電子顯微鏡)SEMVision™ G4系統(tǒng)，它將應(yīng)用材料公司非常成功的SEMVision系統(tǒng)的技術(shù)和生產(chǎn)能力提升到45納米及更小的技術(shù)節(jié)點(diǎn)。SEMVision G4系統(tǒng)的關(guān)鍵在于全新的SEM聚焦離子槍技術(shù)和增強(qiáng)的多視角SEM成像系統(tǒng)(MPSI)，他們具有卓越的2納米物理精度，能提供無與倫比的成像質(zhì)量，其每秒一個(gè)缺陷的檢測速度也設(shè)定了新的基準(zhǔn)。 應(yīng)用材料公司工藝診斷和控制事業(yè)部SEM部門總經(jīng)理Ronen Benzion表示：“45納米
- 關(guān)鍵字： 測試 測量 應(yīng)用材料 EMVision G4 SEM 測量工具
| 共1條 1/1 1 |
emvision介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條emvision!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對emvision的理解，并與今后在此搜索emvision的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對emvision的理解，并與今后在此搜索emvision的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473