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基于PCIE的多FC子卡測(cè)試設(shè)備的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 通過對(duì)FC子卡測(cè)試需求的分析，文章提出了一種基于PCIE接口的多FC子卡測(cè)試設(shè)備的設(shè)計(jì)方法。主要采用PCIE交換進(jìn)行總線擴(kuò)展，最后經(jīng)過實(shí)現(xiàn)和驗(yàn)證，結(jié)果顯示該設(shè)計(jì)可以很好的滿足測(cè)試和試驗(yàn)要求，并且該設(shè)計(jì)通用性好，通過對(duì)該設(shè)計(jì)的升級(jí)改進(jìn)，可以適用更多的PCI／PCIE設(shè)備，具有一定的實(shí)用意義。
- 關(guān)鍵字： FC子卡 PCIE交換 測(cè)試設(shè)備
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