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基于FPGA實現(xiàn)邏輯芯片的功能故障測試

在最原始的測試過程中，對集成電路（IntegratedCircuit,IC）的測試是依靠有經(jīng)驗的測試人員使用信號發(fā)生器、萬用表和示波器等儀器來進行測試的。這種測試方法測試效率低，無法實現(xiàn)大規(guī)模大批量的測試。隨著集成電路的集成度...
關鍵字： FPGA邏輯芯片功能故障測

共1條 1/1 1

fpga邏輯芯片功能故障測介紹

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