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Hilbert分形結(jié)構(gòu)在RFID標(biāo)簽天線(xiàn)中的應(yīng)用

現(xiàn)代社會(huì)產(chǎn)品越來(lái)越豐富，數(shù)據(jù)管理需求也越來(lái)越高，人們需要將多種多樣處于生產(chǎn)、銷(xiāo)售、流通過(guò)程中的物品進(jìn)行標(biāo)識(shí)、管理和定位。采用傳統(tǒng)的條形碼進(jìn)行物品標(biāo)識(shí)將會(huì)帶來(lái)一系列的不便：無(wú)法進(jìn)行較遠(yuǎn)距離的識(shí)別，需要人
關(guān)鍵字：天線(xiàn) 應(yīng)用標(biāo)簽 RFID 分形結(jié)構(gòu) Hilbert

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
關(guān)鍵字： Hilbert 分形結(jié)構(gòu) RFID 標(biāo)簽天線(xiàn) 小型化

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
關(guān)鍵字： Hilbert 分形結(jié)構(gòu) 電子標(biāo)簽天線(xiàn)設(shè)計(jì)

電壓凹陷是嚴(yán)重的動(dòng)態(tài)電能質(zhì)量問(wèn)題之一，補(bǔ)償電壓凹陷能帶來(lái)巨大的經(jīng)濟(jì)效益。而實(shí)現(xiàn)電壓凹陷特征量的快速、準(zhǔn)確檢測(cè)是電壓凹陷補(bǔ)償?shù)那疤幔虼穗妷喊枷萏卣髁康臋z測(cè)方法及補(bǔ)償指令的產(chǎn)生成為目前對(duì)DVR研究的一個(gè)熱點(diǎn)。采用Hilbert變換與后差分相結(jié)合的檢測(cè)方法，首先利用Hilbert變換可對(duì)凹陷電壓信號(hào)的幅值進(jìn)行檢測(cè)，然后采用后差分得到電壓凹陷的起止時(shí)刻，不但提高了檢測(cè)精度，還能實(shí)時(shí)產(chǎn)生電壓補(bǔ)償指令信號(hào)。通過(guò)Matlab對(duì)其進(jìn)行仿真，仿真結(jié)果表明了該檢測(cè)方法簡(jiǎn)單、快速、準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)。
關(guān)鍵字： Hilbert 變換電壓檢測(cè)方法

經(jīng)過(guò)仿真和實(shí)際測(cè)試，發(fā)現(xiàn)介質(zhì)基板，封裝材料的相對(duì)介電常數(shù)和材料的厚度對(duì)天線(xiàn)諧振頻率點(diǎn)都有較大影響。即諧振頻率點(diǎn)隨著介電常數(shù)和基板厚度的增大而減小，對(duì)于分形天線(xiàn)，它們只影響諧振頻點(diǎn)的下降，但不會(huì)影響各個(gè)諧振頻點(diǎn)的相對(duì)位置。也就是說(shuō)，分形天線(xiàn)具有多諧振點(diǎn)特征，但是多個(gè)諧振頻率之間的關(guān)系是由分形的結(jié)構(gòu)確定的，而不是由材料的介電常數(shù)和介質(zhì)厚度確定的。相對(duì)介電常數(shù)和材料的厚度對(duì)天線(xiàn)的輻射方向圖和天線(xiàn)增益不產(chǎn)生影響，這種性質(zhì)也可用于天線(xiàn)小型化的設(shè)計(jì)中。
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