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吉時利發布4200-SCS半導體特征分析系統KTEI V7.1升級版

　　吉時利（Keithley）儀器公司，日前發布最近針對其屢獲殊榮的4200-SCS半導體特征分析系統推出了KTEI（吉時利交互式測試環境）V7.1版。經過此次軟件升級之后，KTEI支持更高功率半導體器件的測試。這樣，4200-SCS就支持從低到高各種功率水平的器件的特征分析，從而成為市場上最完整的半導體特征分析儀，大大降低了一些復雜測量的難度，并且通過保護用戶的固定資產投資降低了用戶的測試成本。　　KTEI V7.1的此次升級融合了多種新特征和新功能，擴寬了4200-CVU（電容-電壓單元）的功能，
關鍵字：吉時利 Keithley 半導體 KTEI

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