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Altium攜手MCAD廠商全力打造機電協(xié)同設(shè)計解決方案
- 智能系統(tǒng)設(shè)計自動化的全球領(lǐng)導(dǎo)者及3D PCB 設(shè)計解決方案(Altium Designer)和嵌入軟件開發(fā)(TASKING)供應(yīng)商Altium有限公司近日宣布與多家MCAD廠商攜手合作，共同打造無縫集成的機電協(xié)同設(shè)計解決方案，助力工程師增強協(xié)作效率，簡化產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)流程，以更短的研發(fā)時間實現(xiàn)創(chuàng)新性設(shè)計。 隨著電子產(chǎn)品及其開發(fā)流程的不斷演進，電子設(shè)計和機械設(shè)計兩個完全不同的設(shè)計領(lǐng)域之間的無縫集成變得越發(fā)重要。Altium致力于打造DXP開發(fā)平臺，并與第三方展開深度合作，架起ECAD和MCAD設(shè)計領(lǐng)
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MCAD-ECAD協(xié)同設(shè)計的一體化應(yīng)對方案
- 在當今全球市場中，設(shè)計人員受分立設(shè)計原則的過時思想所困擾。他們只想設(shè)計能夠在競爭中勝出的優(yōu)秀產(chǎn)品，而且他們只想獲得一種簡單易用、使自己能夠?qū)Ｖ诋a(chǎn)品智能設(shè)計的解決方案。在更短時間內(nèi)開發(fā)出新一代電子產(chǎn)品
- 關(guān)鍵字： MCAD-ECAD 協(xié)同設(shè)計 方案
應(yīng)對MCAD-ECAD協(xié)同設(shè)計的一體化方案
- 在當今全球市場中，設(shè)計人員受分立設(shè)計原則的過時思想所困擾。他們只想設(shè)計能夠在競爭中勝出的優(yōu)秀產(chǎn)品，而且他們只想獲得一種簡單易用、使自己能夠?qū)Ｖ诋a(chǎn)品智能設(shè)計的解決方案?！ ≡诟虝r間內(nèi)開發(fā)出新一代電子
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應(yīng)對MCAD-ECAD協(xié)同設(shè)計的一體化設(shè)計方案
- 在當今全球市場中，設(shè)計人員受分立設(shè)計原則的過時思想所困擾。他們只想設(shè)計能夠在競爭中勝出的優(yōu)秀產(chǎn)品，而且他們只想獲得一種簡單易用、使自己能夠?qū)Ｖ诋a(chǎn)品智能設(shè)計的解決方案?！ ≡诟虝r間內(nèi)開發(fā)出新一代
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Altium推出最新版一體化電子產(chǎn)品設(shè)計解決方案
- 日前，Altium 宣布推出擁有 100 多項新特性的最新版一體化電子產(chǎn)品設(shè)計解決方案，從而使截然不同的設(shè)計領(lǐng)域進一步實現(xiàn)了關(guān)聯(lián)融合。 首次實現(xiàn)與機械領(lǐng)域的真正協(xié)作 電子產(chǎn)品通常需要某種形式的包裝與外殼，但傳統(tǒng)上電子設(shè)計人員與機械設(shè)計人員之間鮮有聯(lián)系。要將電子產(chǎn)品放進機械外殼中，過去更多是靠運氣，而非通過良好的管理來實現(xiàn)。 Altium 推出了一款可真正解決這些問題的高效解決方案，能將電子設(shè)計 (ECAD) 與外殼的機械設(shè)計 (MCAD) 工作相互匹配聯(lián)系，徹底改變了現(xiàn)狀。如今，電子
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Altium新技術(shù)使電子設(shè)計人員與機械設(shè)計人員能夠開展實時協(xié)作
- 日前，業(yè)界領(lǐng)先的一體化電子產(chǎn)品開發(fā)解決方案開發(fā)商 Altium 宣布推出一款創(chuàng)新技術(shù)，首次使電子設(shè)計人員無需猜測就能以 3D 的方式實時檢測設(shè)計板與機械外殼是否匹配，從而避免了費用昂貴的試差工作法，不必再以“等等看”的態(tài)度反復(fù)進行 ECAD-MCAD 測試，而這種辦法一直是之前影響產(chǎn)品上市進程的主要問題。 電子設(shè)計人員始終致力于探索可創(chuàng)建新一代電子產(chǎn)品的創(chuàng)新方法。Altium 相信，將 ECAD與 MCAD 相結(jié)合的一體化電子設(shè)計方案必將取代當前彼此孤立的方案，電子產(chǎn)品的
- 關(guān)鍵字： Altium 電子設(shè)計人員 ECAD 機械設(shè)計人員 MCAD
Altium推出ECAD-MCAD協(xié)作的創(chuàng)新方法
- 2008 年 6月 3 日，Altium 宣布推出一款創(chuàng)新技術(shù)，首次使電子設(shè)計人員無需猜測就能以 3D 的方式實時檢測設(shè)計板與機械外殼是否匹配，從而避免了費用昂貴的試差工作法，不必再以“等等看”的態(tài)度反復(fù)進行 ECAD-MCAD 測試，而這種辦法一直是之前影響產(chǎn)品上市進程的主要問題。 電子設(shè)計人員始終致力于探索可創(chuàng)建新一代電子產(chǎn)品的創(chuàng)新方法。Altium 相信，將 ECAD與 MCAD 相結(jié)合的一體化電子設(shè)計方案必將取代當前彼此孤立的方案，電子產(chǎn)品的開發(fā)與上市將不再會采用
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