mems開關(guān) 文章 進(jìn)入mems開關(guān)技術(shù)社區(qū)
基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測(cè)試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
- 先進(jìn)的數(shù)字處理器IC要求通過單獨(dú)的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)測(cè)試，以達(dá)到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。圖1.操作員將負(fù)載板安裝到測(cè)試儀上，以測(cè)試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn)半導(dǎo)體市場(chǎng)在不斷發(fā)展，為5G調(diào)制解調(diào)器IC、圖像處理IC和中央處理IC等先進(jìn)的處理器提供速度更快、密度更高的芯片間通信。在這種
- 關(guān)鍵字： MEMS開關(guān) SoC測(cè)試
mems開關(guān)介紹
MEMS開關(guān)就是MEMS技術(shù)的具體應(yīng)用。顧名思義,開關(guān)就是來控制電路通斷狀況的，高效、快速反應(yīng)、準(zhǔn)確、重復(fù)使用頻率、高可靠性是現(xiàn)代電路系統(tǒng)對(duì)開關(guān)的特殊要求。MEMS開關(guān)的研究始于1979年IBM的K.E.Peterson，隨后經(jīng)過了二十幾年的發(fā)展，由于薄膜的柔軟和變形，MEMS開關(guān)始終沒有取得人們預(yù)期的成績(jī)。隨著通訊頻率的不斷增高，現(xiàn)有的半導(dǎo)體開關(guān)因不能滿足頻率的升高而失去開關(guān)能力。MEMS開關(guān)的 [ 查看詳細(xì) ]
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473