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【系統(tǒng)解析】LTE測(cè)試的難點(diǎn)
- 【系統(tǒng)解析】LTE測(cè)試的難點(diǎn)-測(cè)試技術(shù)是LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán)，面對(duì)LTE產(chǎn)業(yè)多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，LTE測(cè)試還有哪些測(cè)試難點(diǎn)待解？
- 關(guān)鍵字： TD-LTE終端 MIMO系統(tǒng) LTE產(chǎn)業(yè) LTE測(cè)試
用于MIMO系統(tǒng)的三頻段天線陣設(shè)計(jì)
- 每天都有新的用戶對(duì)服務(wù)和數(shù)據(jù)傳輸速度提出新的要求。多頻天線的發(fā)展已成為擴(kuò)展手機(jī)性能的一種通用方法...
- 關(guān)鍵字： MIMO系統(tǒng) 三頻段 天線陣設(shè)計(jì)
用于MIMO系統(tǒng)的三頻段天線陣
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- 關(guān)鍵字： MIMO系統(tǒng) 天線陣 PIFA 隔離度
球形檢測(cè)器在MIMO通信系統(tǒng)中的應(yīng)用及FPGA實(shí)現(xiàn)
- 關(guān)鍵字： 空分復(fù)用 球形檢測(cè)器 MIMO系統(tǒng) FPGA
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