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NI擴(kuò)展PXI平臺(tái)的功能 降低半導(dǎo)體分析和測(cè)試成本
- 2011年8月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)擴(kuò)展其PXI平臺(tái)的功能，通過(guò)新發(fā)布的每個(gè)引腳參數(shù)測(cè)量單元模塊(PPMU)和源測(cè)量單元模塊(SMU)用于半導(dǎo)體的特性描述和生產(chǎn)測(cè)試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設(shè)備成本，縮短測(cè)試時(shí)間，并提升各種測(cè)試設(shè)備的混合信號(hào)靈活性。 使用NI PXIe-6556高速數(shù)字I /
- 關(guān)鍵字： NI PXI平臺(tái) PPMU SMU
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