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          基于FPGA的抗SEU存儲器的設(shè)計實現(xiàn)
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 基于FPGA的抗SEU存儲器的設(shè)計實現(xiàn),O 引言隨著我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展，衛(wèi)星的應(yīng)用越來越廣泛。然而，太空環(huán)境復(fù)雜多變，其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會產(chǎn)生各種輻射效應(yīng)。輻射效應(yīng)對電子器件的影響不可忽視
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          • 關(guān)鍵字：
                        設(shè)計  實現(xiàn)  存儲器  SEU  FPGA  的抗  基于                          
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          抗SEU存儲器的FPGA設(shè)計實現(xiàn)
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 抗SEU存儲器的FPGA設(shè)計實現(xiàn),O 引言　　隨著我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展，衛(wèi)星的應(yīng)用越來越廣泛。然而，太空環(huán)境復(fù)雜多變，其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會產(chǎn)生各種輻射效應(yīng)。輻射效應(yīng)對電子器件的影響不可
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          • 關(guān)鍵字：
                        實現(xiàn)  設(shè)計  FPGA  存儲器  SEU                          
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          抗SEU存儲器的設(shè)計的FPGA實現(xiàn)
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 抗SEU存儲器的設(shè)計的FPGA實現(xiàn),　　O 引言　　隨著我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展，衛(wèi)星的應(yīng)用越來越廣泛。然而，太空環(huán)境復(fù)雜多變，其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會產(chǎn)生各種輻射效應(yīng)。輻射效應(yīng)對電子器件的影響
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          • 關(guān)鍵字：
                        實現(xiàn)  FPGA  設(shè)計  存儲器  SEU                          
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          SEU的抑制
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　引言
　　隨著工藝技術(shù)的迅速發(fā)展，創(chuàng)新進一步提高了器件在速率、容量和功耗等方面的性能，使得FPGA比ASIC更具優(yōu)勢。然而，技術(shù)的發(fā)展也突出了以前可以忽略的某些效應(yīng)，例如，單事件干擾(SEU)導(dǎo)致的軟誤碼影響越來越大。通過仔細的IC設(shè)計，65nm節(jié)點單位比特的軟誤碼率有所下降，但是每一工藝節(jié)點的邏輯容量在不斷翻倍，配置RAM(CRAM)比特數(shù)量也隨之增長。
　　現(xiàn)在的FPGA容量越來越大，功能越來越強，逐漸擔(dān)負起系統(tǒng)的核心功能，例如數(shù)據(jù)通路等；因此，設(shè)計人員能夠?qū)⑾到y(tǒng)集成在一片可編程芯片中。這些發(fā)
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          • 關(guān)鍵字：
                        SEU  干擾率                          
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	共4條
	1/1															1								
	
          
		                
          
	               	
          
                
          
        	
          
            
          
        
          
	
          
	
          
  		
          
    		
          
      			
          
          			
          seu介紹
          
      			
          
		      	
          
		      			      			      	SEU是Single event upset的縮寫，中文譯為單粒子翻轉(zhuǎn)。是SEE的一種表現(xiàn)形式。
Single event upset (SEU) is defined by NASA as "radiation-inducederrors in microelectronic circuits caused when charged particles(usually from the rad		      	[ 查看詳細 ]
		      			      	
          
    		
          
  		
          
  		  		  		  		  		
  		  		        		  		
          
    		
          
      			
          
        			
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