soc測(cè)試文章進(jìn)入soc測(cè)試技術(shù)社區(qū)

基于新型MEMS開(kāi)關(guān)提高SoC測(cè)試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出

先進(jìn)的數(shù)字處理器IC要求通過(guò)單獨(dú)的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)測(cè)試，以達(dá)到質(zhì)保要求。這帶來(lái)了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開(kāi)關(guān)如何助力一次性通過(guò)單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。圖1.操作員將負(fù)載板安裝到測(cè)試儀上，以測(cè)試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn)半導(dǎo)體市場(chǎng)在不斷發(fā)展，為5G調(diào)制解調(diào)器IC、圖像處理IC和中央處理IC等先進(jìn)的處理器提供速度更快、密度更高的芯片間通信。在這種
關(guān)鍵字： MEMS開(kāi)關(guān) SoC測(cè)試

提出了一種有效的基于游程編碼的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮/ 解壓縮的算法: 混合游程編碼, 它具有壓縮率高和相應(yīng)解碼電路硬件開(kāi)銷小的突出特點(diǎn). 另外, 由于編碼算法的壓縮率和測(cè)試數(shù)據(jù)中不確定位的填充策略有很大的關(guān)系
關(guān)鍵字： SoC測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮位填充游程編碼

系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)現(xiàn)在是半導(dǎo)體業(yè)界一個(gè)很熱門(mén)的字眼，可以說(shuō)是工程突破及新型應(yīng)用的同義詞。由于人們對(duì)消費(fèi)產(chǎn)...
關(guān)鍵字： SoC測(cè)試可升級(jí)測(cè)試平臺(tái)

中國(guó)是全球半導(dǎo)體市場(chǎng)成長(zhǎng)最快的區(qū)域，預(yù)計(jì)每年增長(zhǎng)率超過(guò)25%，原因在于中國(guó)已經(jīng)成為全球集成電路消費(fèi)的中心、...
關(guān)鍵字： SoC測(cè)試 IC 上市時(shí)間

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