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愛德萬測試發(fā)表全新多功能存儲器測試系統(tǒng)T5833，同時支持Mobile DRAM與NAND閃存測試

　　2015 年6 月16 日，全球領先的半導體測試設備供應商愛德萬測試發(fā)表全新存儲器測試系統(tǒng)T5833，新系統(tǒng)同時支持DRAM 與NAND 閃存器件的晶圓測試及后道封裝測試，可滿足低成本大規(guī)模量產(chǎn)測試需求。T5833 預定本月開始出貨。　　隨著移動電子設備銷售量的不斷攀升，主要搭載于智能手機及平板電腦上的DRAM、NAND 閃存與多芯片封裝存儲器 (MCP) 正朝著快速提升速度與容量的方向發(fā)展，這個趨勢也同樣顯見于網(wǎng)絡和云端服務器市場。然而，當今存儲器種類繁多，測試成本是一大障礙，因此芯片制造商急需
關鍵字：愛德萬，T5833

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