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基于JTAG的星型掃描接口的設(shè)計(jì)及其仿真
- 邊界掃描測(cè)試技術(shù)飛速發(fā)展，測(cè)試與調(diào)試功能不斷增強(qiáng)，硬件IP模塊向集成多個(gè)內(nèi)核方向發(fā)展，以往芯片中傳統(tǒng)的測(cè)試訪問(wèn)端口(TAP)中嵌入單一的測(cè)試訪問(wèn)端口控制器(TAPC)逐漸被系統(tǒng)芯片中嵌入多個(gè)TAPC所取代。為使單芯片中集成多TAPC的操作規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化，2009年提出的新的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.7。為解決系統(tǒng)集成復(fù)雜度越來(lái)越高所帶來(lái)的測(cè)試調(diào)試任務(wù)困難，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范了一種支持星型掃描功能的IEEE 1149.7測(cè)試訪問(wèn)端口(在本文中稱為TAP.7接口)，其接口在原有的IEEE1149.1端口(JTAG)器
- 關(guān)鍵字： JTAG TAPC
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